测厚仪在实际检测工作中，经常碰到测厚仪示值与设计值(或预期值)相比，明显偏大或偏小，原因分析如下：
1、层叠材料、复合(非均质)材料。要测量未经耦合的层叠材料是不可能的，因超声波无法穿透未经耦合的空间，而且不能在复合(非均质)材料中匀速传播。对于由多层材料包扎制成的设备(像尿素高压设备)，测厚时要特别注意，测厚仪的示值仅表示与探头接触的那层材料厚度。
2、声速选择错
漾YANG便携式单波长X射线荧光光谱仪
测厚仪在实际检测工作中，经常碰到测厚仪示值与设计值(或预期值)相比，明显偏大或偏小，原因分析如下：
1、层叠材料、复合(非均质)材料。要测量未经耦合的层叠材料是不可能的，因超声波无法穿透未经耦合的空间，而且不能在复合(非均质)材料中匀速传播。对于由多层材料包扎制成的设备(像尿素高压设备)，测厚时要特别注意，测厚仪的示值仅表示与探头接触的那层材料厚度。
2、声速选择错误。测量工件前，根据材料种类预置其声速或根据标准块反测出声速。当用一种材料校正仪器后(常用试块为钢)又去测量另一种材料时，将产生错误的结果。
二：仪器测量不准————
①请系统校准仪器，标定，使之符合误差范围------误差遵循≦3%(厚度值）±1um如需测试更加精准请在被测工件的光滑裸基上（而不是随机带的的铁块）进行系统校准。
②请检查探头前端是否磨损，是否变形，有附着物质等-------探头外护套是否不在水平等,变形可适当用砂纸打磨修正，处理干净.
③被测件基材表面粗糙度影响，引起系统误差和偶然误差----- 测量时在不同位置增加测量次数，克服偶然误差。或用砂纸打磨基材重新校对仪器零点。
④测量手法以及探头的放置-------需保持探头与试样垂直
⑤被测件曲度---------在该探头所适应的曲率半径下，重新校准。尤其管道凸面，注意探头V型卡槽稳定放置。
⑥其它因素请参阅说明书-----------咨询公司售后服务或返厂检修
采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大（如钢上镀镍）。
由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。
（作者： 来源：）
