c 基体金属厚度每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。d 边缘效应本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。e 曲率试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
涂镀层测厚仪中F，N以及FN的区别：F代表fe
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c 基体金属厚度每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。d 边缘效应本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。e 曲率试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
涂镀层测厚仪中F，N以及FN的区别：F代表ferrous 铁磁性基体，F型的涂层测厚仪采用电磁感应原理， 来测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层，例如：漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。N代表Non- ferrous非铁磁性基体，N型的涂层测厚仪采用电涡流原理；来测量用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。FN型的涂层测厚仪既采用电磁感应原理，又采用采用电涡流原理，是F型和N型的二合一型涂层测厚仪词条图册
1. 测量速度快：测量速度比其它TT系列快6倍；2. 精度高 ：本公司产品简单校0后精度即可达到1-2%是目前市场上唯壹能达到的产品,其精度远高于时代等国内同类.比EPK等进口产品精度也高；3. 稳定性：测量值的稳定性和使用稳定性优于进口产品；4. 功能、数据、操作、显示全部是中文测量方法。
使用仪器时应当遵守的规定a 基体金属特性对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。b 基体金属厚度检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，可采用3.3中的某种方法进行校准。c 边缘效应不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。d 曲率不应在试件的弯曲表面上测量。e 读数次数
XRF在矿石领域的应用
随着我国社会经济的发展，我国矿业目前正处于转型期，朝着生态环保、高质量发展、资源节约、技术是矿业的发展方向，这对矿产采选、冶炼、深加工等环节中对矿产检测有了更严格的要求。
X射线荧光分析技术是一种、无损、度、可多元素同时测定的物质测量方法。适合于矿产主量、次量及微量成分分析具有简便、的优点，这些特点使得该分析技术在许多领域都更加便携且更具优势。
TrueX 矿石分析仪能够在很少或没有样本准备的情况下，在活动的各个阶段，包含从基层勘探开发，到矿石品位控制，甚至环境调查等情况下，提供、准确的元素分析结果，与传统的实验室方法相比，样品吞吐量高，样品密度增加，省时省心又省力。
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