金属材料检测的内部组织缺陷1.疏松：在进行金属材料检测时，铸铁或铸件在凝固中，由于诸晶枝之间的区域内的熔体凝固而收缩以及放出气体，导致产生许多细小孔隙和气体而造成的不致密性。 2.夹渣：被固态金属基体所包围着的杂质相或异物颗粒。 3.偏析：金属材料检测时会出现合金金属内各个区域化学成分的不均匀分布的情况。 4.脱碳：钢及铁基合金的材料或制件的表层内的碳全部或部分失掉的
电镜测试费用
金属材料检测的内部组织缺陷
1.疏松：在进行金属材料检测时，铸铁或铸件在凝固中，由于诸晶枝之间的区域内的熔体凝固而收缩以及放出气体，导致产生许多细小孔隙和气体而造成的不致密性。
2.夹渣：被固态金属基体所包围着的杂质相或异物颗粒。
3.偏析：金属材料检测时会出现合金金属内各个区域化学成分的不均匀分布的情况。
4.脱碳：钢及铁基合金的材料或制件的表层内的碳全部或部分失掉的现象。
扫描电镜之电子探针
元素分析范围广
电子探针所分析的元素范围一般从硼(B)——铀(Ｕ)，因为电子探针成份分析是利用元素的特征X 射线，而氢和氦原子只有K 层电子，不能产生特征X 射线，所以无法进行电子探针成分分析。锂(Li)和铍(Be)虽然能产生X 射线，但产生的特征X 射线波长太长，通常无法进行检测，少数电子探针用大面间距的皂化膜作为衍射晶体已经可以检测Be元素。能谱仪的元素分析范围现在也和波谱相同，分析元素范围从硼(B)——铀(Ｕ)
扫描电镜的介绍
扫描电镜的介绍
EPMA和SEM都是用聚焦得很细的电子束照射被检测的试样表面，用X 射线能谱仪或波谱仪，测量电子与试样相互作用所产生的特征X 射线的波长与强度， 从而对微小区域所含元素进行定性或定量分析，并可以用二次电子或背散射电子等信息进行形貌观察。
EPMA和SEM是现代固体材料显微分析(微区成份、 形貌和结构分析)的有用仪器，应用十分广泛。电子探针和扫描电镜都是用计算机控制分析过程和进行数据处理，并可进行彩像处理和图像分析工作，所以是一种现代化的大型综合分析仪。据2003 年不完全统计，国内各种型号的电子探针和扫描电镜超过2000 台，分布在各个领域。
扫描电子显微镜（SEM）之化学方法制备样品
扫描电子显微镜（SEM）之化学方法制备样品
1、清洗：某些生物材料表面常附血液、细胞碎片、消化道内的食物残渣、细菌、及粘液等异物，掩盖着要观察的部位，因而，需要在固定之前用生理盐水或等渗缓冲液等把附着物清洗干净。亦可用5%碳酸钠冲洗或酶消化法去除这些异物。
2、固定：通常采用醛类(主要是和多聚甲醛)与双固定，也可用单固定。固定不仅可良好地保存组织细胞结构，而且能增加材料的导电性和二次电子产额，提高扫描电子显微图象的质量。这对高分辨扫描电子显微术是重要的。为增强这种效果，可用-单宁酸或是-珠叉二胼等反复处理材料，使其结合更多的重金属锇，这就是导电染色。
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