(2)主要技术参数
1)基本参数
功率源: 5000V 1200A
2)栅极-发射极漏电流IGES
IGES: 0.1-10uA±2%±0.01uA
集电极电压VCE: 0V
栅极电压Vge: 0-40V±3%±0.1V
3)集电极-发射极电压
集电极电压VCES: 100-5000V±2%±10V
集电极电流ICES: 0.1-5mA±3%±0.01mA
栅极电压Vg
便携式IGBT测试仪加工
(2)主要技术参数
1)基本参数
功率源: 5000V 1200A
2)栅极-发射极漏电流IGES
IGES: 0.1-10uA±2%±0.01uA
集电极电压VCE: 0V
栅极电压Vge: 0-40V±3%±0.1V
3)集电极-发射极电压
集电极电压VCES: 100-5000V±2%±10V
集电极电流ICES: 0.1-5mA±3%±0.01mA
栅极电压Vge: 0V
4)集电极-发射极饱和电压VCESat
VCESat:0.2-5V
栅极电压Vge: ±15V±2%±0.2V
集电极电流ICE: 10-1200A±2%±1A
5)集电极-发射极截止电流ICES
集电极电压VCE: 100-5000V±3%
集电极电流ICES: 0.1-5mA±3%±0.01mA
栅极电压VGE: 0V
6)栅极-发射极阈值电压
VGEth: 1-10V±2%±0.1V
Vce: 12V
集电极电流ICE: 30mA±3%
7)二极管压降测试
VF: 0-5V±2%±0.01V
IF: 0-1200A±2%±1A
Vge: 0V

IGBT动态参数测试系统技术要求
1、设备概述
该设备用于功率半导体模块(IGBT、FRD、肖特基二极管等)的动态参数测试,以表征器件的动态特性,通过测试夹具的连接,实现模块的动态参数测试。
2、需提供设备操作手册、维修手册、零部件清单、基础图、设备总图、部件装配图、电气原理图、全机润滑系统图、电气接线用、计算机控制程序软件及其他必要的技术文件,设备有通讯模块必须提供通讯协议及其他必要的技术文件,所有资料必须准备(正本、副本)各一份,电子版一份;同一测试条件的器件的测试曲线可以在软件内进行对比,新测曲线可以与原测曲线进行对比。(正本、副本)技术资料,应至少有一份采用中文,另一份技术资料可以是英文或中文。

9)尖峰抑制电容
用于防止关断瞬态过程中的IGBT器件电压过冲。
电容容量 200μF
分布电感 小于10nH
脉冲电流 2kA
工作温度 室温~40℃
工作湿度 <70%
11)动态测试续流二极管
用于防止测试过程中的过电压。
反向电压 8000V(2只串联)
-di/dt大于2000A/μs
通态电流 1200A
压降小于1V
浪涌电流大于20kA
反向恢复时间小于2μs
工作温度 室温~40℃
工作湿度 <70%
12)安全工作区测试续流二极管
电流 通过选择不同档位电感,满足0~200A电流输出需求(10ms)。反向电压 12kV(3只串联)
-di/dt 大于2000A/μS
通态电流 1200A
压降 小于1V
浪涌电流 大于20kA
反向恢复时间 小于2μS
工作温度 室温~40℃
工作湿度 <70%

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