扫描电镜电子探针显微分析仪基本原理电子探针(EPMA)：它是在电子光学和 X 射线光谱学原理的基础上发展起来的一种、综合分析的仪器。功能：在观察微观形貌的同时，进行微区成分分析。 原理：是用细聚焦电子束入射样品表面，激发出样品元素的特征 X射线，①分析特征 X 射线的波长（或特征能量），可对样品中所含元素的种类进行定性分析；②分析 X 射线的强度，则可对应元素含量进行定量分
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扫描电镜电子探针显微分析仪基本原理
电子探针(EPMA)：它是在电子光学和 X 射线光谱学原理的基础上发展起来的一种、综合分析的仪器。
功能：在观察微观形貌的同时，进行微区成分分析。
原理：是用细聚焦电子束入射样品表面，激发出样品元素的特征 X射线，①分析特征 X 射线的波长（或特征能量），可对样品中所含元素的种类进行定性分析；②分析 X 射线的强度，则可对应元素含量进行定量分析。
构造：主机部分与 SEM 相同，只增加了检测X射线的信号的谱仪，用于检测X射线的特征波长或特征能量。
台式扫描电镜的工作原理
扫描电子显微镜（SEM）——一种电子光学仪器，它利用很细的电子束扫描被观察样品的表面，收集电子束与样品相互作用产生的一系列电子信息，并对图像进行变换和放大。它是研究三维表面结构的有用工具。在高真空镜筒中，电子产生的电子束通过电子会聚透镜聚焦成细束，然后逐点扫描轰击样品表面。产生一系列电子信息（二次电子、背反射电子、透射电子、吸收电子等），检测器接收各种电子信号，经电子放大器放大后输入到显像管控制的显像管。显像管网格。当聚焦的电子束扫描样品表面时，样品的不同部位具有不同的物理、化学性质、表面电位、元素组成和不均匀的形貌，从而产生不同的电子束激发的电子信息，从而导致电子显像管的光束强度也不断变化，zui终在显像管的荧光屏上可以得到与样品表面结构相对应的图像。根据探测器接收到的不同电子信号，可以分别得到样品的背散射电子图像、二次电子图像和吸收电子图像。
扫描电镜（SEM）有什么优点
扫描电镜（SEM）有什么优点
扫描电镜（SEM）之所以如此强大，首先是他成像清晰，放大倍数超乎想象，可以达到几十万倍。它远远超出了光学显微镜的范围。 几乎它的出现，可以说是让研究进入了一个全新的境界。大景深。除成像外，还可以增加其他设备进行更细致的分析和多样化的功能。例如，SEM-EDS是一种扫描电子显微镜，配备有微量分析能谱仪，用于检测元素的总种类和含量。这里是普及一下景深的概念，在写的过程中也是理解的。简单的说，比如我们用手机拍照的时候对焦在一个物体上，可以清楚的看到这个点的内容，而且在这个点前后一定范围内，不严重模糊，可以清楚看到的范围称为景深。
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