蔡司三坐标测量机
作为一款通用型测量工具，SPECTRUM沿袭了ZEISS成熟的测量设计理念，进行合理的软硬件搭配，造就了产品的质量
重要特征：
1、超硬铝制部件保证了整体桥架结构的长期稳定性
2、采用零膨胀玻璃陶瓷材料光栅尺，大大降低了温度变化对测量结果的不利影响
3、高度集成的动态C99控制柜，保证了测量过程的稳定
4、双操纵杆数字式
蔡司zeiss三坐标测量报价
蔡司三坐标测量机
作为一款通用型测量工具，SPECTRUM沿袭了ZEISS成熟的测量设计理念，进行合理的软硬件搭配，造就了产品的质量
重要特征：
1、超硬铝制部件保证了整体桥架结构的长期稳定性
2、采用零膨胀玻璃陶瓷材料光栅尺，大大降低了温度变化对测量结果的不利影响
3、高度集成的动态C99控制柜，保证了测量过程的稳定
4、双操纵杆数字式控制面板，人体工学设计，操作简便，内嵌LED显示，信息丰富
卡尔·蔡司公司由卡尔·蔡司先生于1846年创建于德国耶拿。公司一开始是一间精密机械和光学仪器车间。随着Ernst Abbe的杰出科学成果的应用，公司逐渐成为光学设备仪器领域的。致力于不断建立技术领域的新标准来识别、检验、测量、分析、设计及加工一系列产品。
二十一世纪的卡尔、蔡司更加壮大，仪器产品运用领域相当广泛，不仅仅在研究、医学、工业等方面实现了大多数客户的愿望，并且将这些技术应用于日常休闲活动中。 蔡司三坐标测量机（zeiss三坐标）就是突出的一个。
扫描测头
扫描测头在进行单点触发采点时，其工作方式与触发式测头有很大的区别。触发式测头的采点是在测头触发开始时发生的;而扫描测头则是采用模拟信号转换的方式，其单个采点是在测头触发结束、测针离开物体表面时发生的。这两种不同的采点方式造成的显而易见的区别就是触发测头采点速度显著高于扫描测头。触发测头的采点给人的感觉是“一碰即退”，而扫描测头采点则是测针碰到工件后，会短暂粘滞在工件表面，然后缓慢回退至离开工件表面。
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