扫描电镜优势主要表现在扫描电镜优势主要表现在：
扫描电子显微镜是检测样品表面形貌的大型仪器。当具有一定能量的入射电子束轰击样品表面时，电子与元素核和外层电子发生一次或多次弹性和非弹性碰撞
(1) 机械载荷作用下的微观动力学（裂纹扩展）研究；
(2) 加热条件下晶体合成、气化和聚合的研究；
(3) 晶体生长机理、生长步骤、缺陷和位错的研究；
(4) 晶体非均匀性、壳核结构、
电镜分析机构
扫描电镜优势主要表现在
扫描电镜优势主要表现在：
扫描电子显微镜是检测样品表面形貌的大型仪器。当具有一定能量的入射电子束轰击样品表面时，电子与元素核和外层电子发生一次或多次弹性和非弹性碰撞
(1) 机械载荷作用下的微观动力学（裂纹扩展）研究；
(2) 加热条件下晶体合成、气化和聚合的研究；
(3) 晶体生长机理、生长步骤、缺陷和位错的研究；
(4) 晶体非均匀性、壳核结构、包络结构的成分研究；
(5) 化学环境等中晶粒相组成差异的研究。
扫描电镜图片如何分析
1、扫描电镜照片是灰度图像，分为二次电子像和背散射电子像，主要用于表面微观形貌观察或者表面元素分布观察。
一般二次电子像主要反映样品表面微观形貌，基本和自然光反映的形貌一致，特殊情况需要对比分析。
背散射电子像主要反映样品表面元素分布情况，越亮的区域，原子序数越高。
2、看表面形貌，电子成像，亮的区域高，暗的区域低。非常薄的薄膜，背散射电子会造成假像。导电性差时，电子积聚也会造成假像。
扫描电镜(SEM)测试常见问题
1、做透射电镜TEM测试时样品的厚度Z厚是多少
透射电镜TEM的样品厚度Z好小于100nm，太厚了电子束不易透过，分析效果不好。
2、请问样品的的穿晶断裂和沿晶断裂在扫描电镜SEM图片上有各有什么明显的特征？
在扫描电镜SEM图片中，沿晶断裂可以清楚地看到裂纹是沿着晶界展开，且晶粒晶界明显；穿晶断裂则是裂纹在晶粒中展开，晶粒晶界都较模糊。
3、做透射电镜TEM测试时样品有什么要求？
很简单，只要不含水分就行。如果样品为溶液，则样品需要滴在一定的基板上（如玻璃），然后干燥，再喷碳就可以了。如果样品本身导电就无需喷碳。
使用台式扫描电镜SEM的原因
使用台式扫描电镜SEM的原因，主要是体积小，使用方便，减少占用空间的同时，让大家在使用仪器的时候变的更方便;在操作和维护的时候也非常简单，能够为使用者减少很多不必要的麻烦，同时也能让使用者在短时间内完成测量任务，从而让用户得到需求满足。使用台式扫描电镜SEM能够让使用者掌握被测物品的具体测量结果，帮助使用者做出正确的决定，从而让科研机构能够把握好的条件。
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