扫描电子显微镜的优点介绍扫描电子显微镜的优点：
扫描电子显微镜是检测样品表面形貌的大型仪器。当具有一定能量的入射电子束轰击样品表面时，电子与元素核和外层电子发生一次或多次弹性和非弹性碰撞
①放大倍数较高，20万～20万倍连续可调；
②具有大景深、大视野、立体影像，可直接观察各种样品的凹凸不平表面，精细结构；
③样品制备简单。
目前的扫描电子显微镜配备了X射线能谱仪装置，既可
环境场扫描电镜测试机构
扫描电子显微镜的优点介绍
扫描电子显微镜的优点：
扫描电子显微镜是检测样品表面形貌的大型仪器。当具有一定能量的入射电子束轰击样品表面时，电子与元素核和外层电子发生一次或多次弹性和非弹性碰撞
①放大倍数较高，20万～20万倍连续可调；
②具有大景深、大视野、立体影像，可直接观察各种样品的凹凸不平表面，精细结构；
③样品制备简单。
目前的扫描电子显微镜配备了X射线能谱仪装置，既可以观察微观结构，又可以分析微观区域的成分。因此，它是当今非常有用的科研仪器。
扫描电子显微镜(SEM)之样品处理的要求
扫描电子显微镜（SEM）之样品处理的要求
样品须为干燥。
水蒸气会加速电子阴极材料的挥发，从而大降低灯丝寿命；水蒸气会散射电子束，增加电子束能量分散，从而加大色差，降低分辨能力。
样品表面须导电。
在大多数情况下，初级电子束电荷数量都大于背散射电子和二次电子数量之和，因此多余的电子须导入地下，即样品表面电位须保持在0电位。如果样品表面不导电，或者样品接地线断裂，那么样品表面静电荷存在，使得表面负电势不断增加，出现充电效应，使图像畸变，入射电子束减速，此时样品如同一个电子平面镜。
在某些情况下，样品制备变成重要的考虑因素
若要检测观察弱反差机理，就须消除强反差机理（例如，形貌反差），否则很难检测到弱的反差。当希望EBSD背散射电子衍射反差，I和II型磁反差或其他弱反差机理时，磁性材料的磁畴特性须消除样品的形貌。采用化学抛光，电解抛光等，产生一个几乎消除形貌的镜面。
扫描电镜(SEM)测试常见问题
水溶液中的纳米粒子如何做透射电镜TEM？
透射电镜样品一定要在高真空中下检测，水溶液中的纳米粒子不能直接测。一般用一个微栅或铜网，把样品捞起来，然后放在样品预抽器中，烘干即可放入电镜里面测试。 如果样品的尺寸很小，只有几个纳米，选用无孔的碳膜来捞样品即可。
粉末状样品怎么做透射电镜TEM？
扫描电镜测试中粉末样品的制备多采用双面胶干法制样，和选用合适的溶液超声波湿法制样。分散剂在扫描电镜的样品制备中效果并不明显，有时会带来相反的作用，如干燥时析晶等。
EDS与XPS测试时采样深度的差别？
XPS采样深度为2-5nm，我想知道EDS采样深度大约1um、
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