杂质捕获仪费用择优推荐「通恒」

杂质捕获仪

食品在加工过程中,有时会混入一些金属杂质(如螺钉、螺母、大头钉、订书钉、铁屑等),由于这些金属杂质的存在,不仅会损坏机械设备,影响食品生产的质量,甚至会有害于人们的健康。为确保食品的安全,必须予先将这些金属杂质检测出来。高灵敏度金属探测仪具有这样的功能,能够自动探测糖果、饼干、面包等食品中是否混杂着金属杂质,当被检测食品放在传送带上,或某种运行的滑板上,通过探头时,若食品中含有0.0011克一。、.02克的金属杂质,便能产生信号,使继电器动作,发出告警信号,控制电机使传送带或成型机停下来,以实现探测过程的自动化。

由振荡器向发射线圈供给一定频率的高频电流,发射线圈周围便产生高频可变磁场。两组付线圈采用极性相反的差动联接方式。正常情况下,两组线圈中感应电动势大小相等,极性相反,互相抵消,差动电势为零,探头没有信号输出。当被探测食品是以速度(>0.1米/秒)自左向右通过探头时,混杂在食品中的金属体便会使周围的电磁场发生变化,并将这个微小金属引起的变化,变成电信号(差动电势)送至选频放大器,检波器和调制型直流放大器进行高倍放大,达到推动触发器翻转的目的,从而给出探测信号,并切断某些控制电路,实现探测过程的自动化。

层析介质的清洗介绍

在生物的生产过程中，层析技术是关键的步骤之一。生物通过培养，收集，经过层析介质的纯化，终得到符合要求的生物产品。

在生物制药的分离纯化过程中，培养的物料通过层析介质分离纯化，得到符合要求的目标产品。同时，物料中的杂质也污染了层析介质。这些污染物包括：宿主的蛋白（HCP）、核酸、脂类，培养过程中的代谢产物、内、杂菌，产品聚体，降解片段以及所用试剂中的杂质等。

这些污染物在下一次的分离纯化中将污染目标产品。所以必须去除或将其降低到安全水平。这就是我们所提到的层析介质的清洗 (CIP) 过程。

优化层析介质的清洗步骤包括以下几个因素

清洗试剂与层析介质的兼容性。即层析介质在清洗时不会与层析介质的骨架发生作用，不会与配基发生作用。污染物 (物料中的杂质) 必须去除或污染物的水平降低到安全水平，污染物包括:细胞碎片，宿主的蛋白，DNA，内以及污染的杂菌。 清洗试剂与层析介质的接触时间，适合的接触时间确保清洗的效果，但不破坏层析介质。清洗试剂处理层析介质时的温度。

（作者： 来源：）