C 扫描成像原理
比方100*100的一个矩形工件，用C扫描扫查，每1mm*1mm记录一个A扫描波形，100*100需要记录10000个A扫描波形，根据这10000个A扫描波形的高低不同生成C扫描图像，这就是C扫描成像的原理，也是对C扫描成像原理形象的解释。
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C扫描机构
C 扫描成像原理
比方100*100的一个矩形工件，用C扫描扫查，每1mm*1mm记录一个A扫描波形，100*100需要记录10000个A扫描波形，根据这10000个A扫描波形的高低不同生成C扫描图像，这就是C扫描成像的原理，也是对C扫描成像原理形象的解释。
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超声 C 扫描的基本原理
超声 C 扫检测本质上是在常规超声 A 扫检测基础上利用电子深度门记录反射回波信号，通过接收电路放大后在示波屏上显示，当探头对工件进行整体扫查后，即可得到工件内部缺陷或界面的俯视图。C 扫图像可以直接反映工件内部与声束垂直方向上缺陷的二维形状与分布，通过不同的颜色标示缺陷的埋藏深度。
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纳克无损C扫描检测蓬勃发展
今年纳克无损在无损计量校准及评价业务板块继续加大投入，与质量基础建设（NQI）战略发展相适应，不断扩充校准设备及校准能力。主要涉及无损检测仪器、探头、对比试样的校准服务和为国内企业提供各类自动化无损检测系统综合性能的测试、评价和认证服务。
随着无损检测技术发展，不断涌现出新的无损检测仪器（比如：相控阵、TOFD、空气耦合等）和检测方法（红外检测、超声应力测试等），为了解决测量的准确性，需要对其进行计量校准，纳克不断扩充校准规范，不仅局限于检定规程和校准规范，还扩充了ISO/EN/ASTM等标准，进一步扩大能力范围.
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