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蔡司 CONTURA 从容应对各种挑战--无论现在还是未来

ZEISS CMM CONTURA广泛适用于各类型工件的测量，在大批量复杂零部件的生产过程中，获得清晰的测量结果至关重要。关键时刻，测量结果更须确凿无疑。来自蔡司的工业测量技术保证了高水平的质量控制。 ZEISS CMM CONTURA广泛适用于各类型工件的测量，固定平台桥式机体设计，融合的DLC钻石涂层材质横梁和Z轴结构，结合机器移动时高稳定设计，兼之扫描测头系统及众多技术优势，确保了系统的精度及动态性能；同时，高刚性结构提高了系统对于环境的抗干扰性能及长久的稳定性。

蔡司三坐标测量机

三坐标测头

如果不事先定义和校准测头，软件系统本身是无法获知所使用的探针类型和测量的角度。测量得到的数据结果自然是不正确的。因此，必须要对所使用的测头进行校验，使得软件知道所配置的探针情况，包括探针数量、方位、探针半径及探针球心的相互位置关系。并且了解所使用探针的精度状况，做到及时更换以确保实现测量的精度要求。

触发测头

对于单点误差分布比较均匀的圆(没有突变的奇异点)来说，测量4个点、8个点或是12个点对直径和位置度影响很微小(在公差带不太小的情况下)，尤其是对采用小二乘法拟合得到的圆;但是，采点数目对于圆度的影响确是不可忽略的。根据系统的分析和计算，要准确评价被测圆的圆度所需要的测点数目N不小于64。