粉末样品的制备应注意以下几点粉末样品的制备对于导电的粉末样品,应先将导电胶带黏结在样品座上,再均匀地把粉末样撒在上面,用洗耳球吹去未黏住的粉末,即可用电镜观察。对不导电或导电性能差的,要再镀上一层导电膜,方可用电镜观察。为了加快测试速度,一个样品座上可以同时制备多个样品,但在用洗耳球吹未黏住的粉末时,应注意不要样品之间相互污染。 对于粉末样品的制备应注意以下几点: A、尽可
FIB电镜制样中心
粉末样品的制备应注意以下几点
粉末样品的制备
对于导电的粉末样品,应先将导电胶带黏结在样品座上,再均匀地把粉末样撒在上面,用洗耳球吹去未黏住的粉末,即可用电镜观察。对不导电或导电性能差的,要再镀上一层导电膜,方可用电镜观察。为了加快测试速度,一个样品座上可以同时制备多个样品,但在用洗耳球吹未黏住的粉末时,应注意不要样品之间相互污染。
对于粉末样品的制备应注意以下几点:
A、尽可能不要挤压样品,以保持其自然形貌状态。
B、特细且量少的样品,可以放于乙醇或者合适的溶剂中用超声波分散一下,再用毛细管滴加到样品台上的导电胶带上(也可用牙签点一滴到样品台上),晾干或强光下烘干即开。
C、粉末样品的厚度要均匀,表面要平整,且量

扫描电镜(SEM)测试常见问题
1、做透射电镜TEM测试时样品的厚度Z厚是多少
透射电镜TEM的样品厚度Z好小于100nm,太厚了电子束不易透过,分析效果不好。
2、请问样品的的穿晶断裂和沿晶断裂在扫描电镜SEM图片上有各有什么明显的特征?
在扫描电镜SEM图片中,沿晶断裂可以清楚地看到裂纹是沿着晶界展开,且晶粒晶界明显;穿晶断裂则是裂纹在晶粒中展开,晶粒晶界都较模糊。
3、做透射电镜TEM测试时样品有什么要求?
很简单,只要不含水分就行。如果样品为溶液,则样品需要滴在一定的基板上(如玻璃),然后干燥,再喷碳就可以了。如果样品本身导电就无需喷碳。

SEM是扫描电子显微镜的简称
SEM是扫描电子显微镜的简称。扫描电子显微镜是1965年发明的一种比较现代的细胞生物学研究工具,它主要利用二次电子信号成像来观察样品的表面形貌,即用很窄的电子束扫描样品,通过与样品之间的相互作用产生各种效应。 该作用产生各种影响,其中包括样品的二次电子发射。 二次电子可以产生样品表面的放大图像,该图像是在扫描样品时按时间顺序建立的,即逐点成像获得放大图像。

纳米材料是纳米科学技术基本的组成部分
纳米材料是纳米科学技术基本的组成部分,只有几纳米的"粒子"可以通过物理、化学和生物方法制备。纳米材料应用广泛。例如,陶瓷材料一般具有硬度高、、耐腐蚀等优点。纳米陶瓷还可以在一定程度上增加韧性,改善脆性。纳米级、纳米级等新型陶瓷纳米材料也是一个重要的应用领域。纳米材料的所有性主要源于其纳米尺寸。因此,要准确知道其尺寸,否则纳米材料的研究和应用将失去基础。

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