IGBT动态参数测试系统技术要求1、设备概述该设备用于功率半导体模块(IGBT、FRD、肖特基二极管等)的动态参数测试,以表征器件的动态特性,通过测试夹具的连接,实现模块的动态参数测试。2、需提供设备操作手册、维修手册、零部件清单、基础图、设备总图、部件装配图、电气原理图、全机润滑系统图、电气接线用、计算机控制程序软件及其他必要的技术文件,设备有通讯模块必须提供通讯协议及其他必要的技术文件,所有资
便携式IGBT测试仪厂家
IGBT动态参数测试系统技术要求
1、设备概述
该设备用于功率半导体模块(IGBT、FRD、肖特基二极管等)的动态参数测试,以表征器件的动态特性,通过测试夹具的连接,实现模块的动态参数测试。
2、需提供设备操作手册、维修手册、零部件清单、基础图、设备总图、部件装配图、电气原理图、全机润滑系统图、电气接线用、计算机控制程序软件及其他必要的技术文件,设备有通讯模块必须提供通讯协议及其他必要的技术文件,所有资料必须准备(正本、副本)各一份,电子版一份;任何产品都有设计使用寿命,同一种产品不同的使用环境和是否得到相应的维护,延长产品使用寿命和设备良好运行具有极为重要。(正本、副本)技术资料,应至少有一份采用中文,另一份技术资料可以是英文或中文。

7、测量配置
7.1 示波器:美国泰克新5系混合信号示波器(MSO),带宽500MHZ,垂直分辨率12位ADC,4通道;
7.2 高速电流探头;
7.3 高压差分探头。
8、测试参数应包括
8.1 开通:turn on (tdon , tr , di/dt , Ipeak , Eon , Pon );
8.2 关断:turn off (tdoff , tf , Eoff , Ic , Poff);
8.3 反向恢复 (Irr,Trr,di/dt,Qrr,Erec);
8.4 栅电荷:采用恒流驱动,电流可调范围:0~100mA;
8.5 短路(1200Amax);
8.6 雪崩;
8.7 NTC(模块)测试:0-20KΩ;
8.8 主要测试参数精度偏差 :< 3 % 。

3.3主要技术要求
3.3.1 动态参数测试单元技术要求
3.3.1.1 环境条件
1)海拔高度:海拔不超过1000m;
2)温度:储存环境温度 -20℃~60℃;
3)工作环境温度: -5℃~40℃;
4)湿度:20%RH 至 90%RH (无凝露,湿球温度计温度: 40℃以下);
5)震动:抗能力按7级设防,地面抗震动能力≤0.5g;
6)防护:无较大灰尘,腐蚀或性气体,导电粉尘等空气污染的损害;

13)被测器件旁路开关
被测安全接地开关,设备不运行时,被测接地。
电流能力 DC 50A
隔离耐压 15kV
响应时间 150ms
工作方式 气动控制
工作气压 0.4MPa
工作温度 室温~40℃
工作湿度 <70%
14)工控机及操作系统
用于控制及数据处理,采用定制化系统,主要技术参数要求如下:
机箱:4Μ 15槽上架式机箱;
支持ATX母板;
高压探头:满足表格4-11动态参数、短路电流、安全工作区测试需求。CPΜ:INTEL双核;
主板:研华SIMB;
硬盘:1TB;内存4G;
3个5.25”和1个3.5”外部驱动器;
集成VGA显示接口、4个PCI接口、6个串口、6个ΜSB接口等。
西门子PLC逻辑控制

(作者: 来源:)