如何检测元件有老化的现象?
半导体元件有许多参数都很重要,有些参数如:放大倍率,触发参数,闩扣,保持参数,崩溃电压等,是提供给工程师在设计电路时的依据,在检测元件是否有老化的现象时,仅须测量导通参数及漏电流二项即可。将量测的数据与其出厂规格相比较,就可判定元件的好坏或退化的百分比。
何谓半导体元件的参数?对元件使用上有何重要性?
中大功率的元件仅在功能上的完好是不够的,因其必须承受规格上的
便携式IGBT测试仪厂家
如何检测元件有老化的现象?
半导体元件有许多参数都很重要,有些参数如:放大倍率,触发参数,闩扣,保持参数,崩溃电压等,是提供给工程师在设计电路时的依据,在检测元件是否有老化的现象时,仅须测量导通参数及漏电流二项即可。将量测的数据与其出厂规格相比较,就可判定元件的好坏或退化的百分比。
何谓半导体元件的参数?对元件使用上有何重要性?
中大功率的元件仅在功能上的完好是不够的,因其必须承受规格上的电压与电流,在某条件下,承受度的数据便称为此元件的参数。若元件的工作条件超过其参数数据,元件可能会立刻烧毁或造成性的损坏。主要参数 测试范围 精度要求 测试条件Vce集射极电压 150~3300V 150~500V±3%±1V。

测试的IGBT参数包括:ICES(漏流)、BVCES(耐压)、IGESF(正向门极漏流)、IGESR(反向门极漏流)、VGETH(门槛电压/阈值)、VGEON(通态门极电压)、VCESAT(饱和压降)、ICON(通态集极漏流)、VF(二极管压降)、GFS(跨导)、rCE(导通电阻)等全直流参数, 所有小电流指标保证1%重复测试精度, 大电流指标保证2%以内重复测试精度。从检测部分传输的数据经上位机处理后可自动列表显示相应测试数据。
半导体元件全自动测试系统,可以元件在真正工作状态下的电流及电压,并测量重要参数的数据,再与原出厂指标比较,由此来判定元件的好坏或退化的百分比。每个电流模块,都具有独立的供电系统,以便在测试时,提供内部电路及电池组充电之用;同一测试条件的器件的测试曲线可以在软件内进行对比,新测曲线可以与原测曲线进行对比。 可选购外部高压模块,执行关闭状态参数测试如:各项崩溃电压与漏电流测量达2KV。

3.3主要技术要求
3.3.1 动态参数测试单元技术要求
3.3.1.1 环境条件
1)海拔高度:海拔不超过1000m;
2)温度:储存环境温度 -20℃~60℃;
3)工作环境温度: -5℃~40℃;
4)湿度:20%RH 至 90%RH (无凝露,湿球温度计温度: 40℃以下);
5)震动:抗能力按7级设防,地面抗震动能力≤0.5g;
6)防护:无较大灰尘,腐蚀或性气体,导电粉尘等空气污染的损害;

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