IC测试过程IC测试一般它分为两大部分：前道工序和后道工序。前道工序将粗糙的硅矿石转变成高纯度的单晶硅。在Wafer上制造各种IC元件。测试Wafer上的IC芯片。后道工序对Wafer（晶圆）划片（进行切割）对IC芯片进行封装和测试。设计公司主要目标是根据市场需求来进行芯片研发，在整个设计过程中，需要一直考虑测试相关的问题。表面贴装型PGA在封装的底面有陈列状的引脚，其长度从1.5
半导体封装测试设备
IC测试过程IC测试一般它分为两大部分：前道工序和后道工序。前道工序将粗糙的硅矿石转变成高纯度的单晶硅。在Wafer上制造各种IC元件。测试Wafer上的IC芯片。后道工序对Wafer（晶圆）划片（进行切割）对IC芯片进行封装和测试。设计公司主要目标是根据市场需求来进行芯片研发，在整个设计过程中，需要一直考虑测试相关的问题。
表面贴装型PGA在封装的底面有陈列状的引脚，其长度从1.5mm到2.0mm。贴装采用与印刷基板碰焊的方法，因而也称为碰焊PGA。因为引脚中心距只有1.27mm，比插装型PGA小一半，所以封装本体可制作小一些，而引脚数比插装型多(250～52，是大规模逻辑LSI用的封装形式。封装的基材有多层陶瓷基板和玻璃环氧树脂印刷基数，以多层陶瓷基材制作的封装已经实用化。
SOP引脚数在几十个之内。薄型小尺寸封装TSOP它与SOP的区别在于其厚度很薄，只有1mm，是SOJ的1/3；由于外观轻薄且小，适合高频使用。它以较强的可操作性和较高的可靠性征服了业界，大部分的SDRAM内存芯片都是采用此TSOP封装方式。TSOP内存封装的外形呈长方形，且封装芯片的周围都有I/O引脚。
引脚中心距1。27mm，引脚数从18到84。J形引脚不易变形，比QFP容易操作，但焊接后的外观检查较为困难。它与LCC封装的区别仅在于前者用塑料，后者用陶瓷，但已经出现用陶瓷制作的J形引脚封装和用塑料制作的无引脚封装。无引脚芯片载体LCC或四侧无引脚扁平封装QFN。指陶瓷基板的四个侧面只有电极接触而无引脚的表面贴装型封装。
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