如何检测元件有老化的现象?
半导体元件有许多参数都很重要,有些参数如:放大倍率,触发参数,闩扣,保持参数,崩溃电压等,是提供给工程师在设计电路时的依据,在检测元件是否有老化的现象时,仅须测量导通参数及漏电流二项即可。将量测的数据与其出厂规格相比较,就可判定元件的好坏或退化的百分比。
何谓半导体元件的参数?对元件使用上有何重要性?
中大功率的元件仅在功能上的完好是不够的,因其必须承受规格上的
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如何检测元件有老化的现象?
半导体元件有许多参数都很重要,有些参数如:放大倍率,触发参数,闩扣,保持参数,崩溃电压等,是提供给工程师在设计电路时的依据,在检测元件是否有老化的现象时,仅须测量导通参数及漏电流二项即可。将量测的数据与其出厂规格相比较,就可判定元件的好坏或退化的百分比。
何谓半导体元件的参数?对元件使用上有何重要性?
中大功率的元件仅在功能上的完好是不够的,因其必须承受规格上的电压与电流,在某条件下,承受度的数据便称为此元件的参数。若元件的工作条件超过其参数数据,元件可能会立刻烧毁或造成性的损坏。2关断:turnoff(tdoff,tf,Eoff,Ic,Poff)。

欲测知元件老化,所须提供的测量范围为何?
当大功率元件在作导通参数的测试时,电流必须大到其所能承受的正常工作值,同时,在作关闭参数的漏电流测试时,电压也必须够高,以元件在真正工作状态下的电流与电压,如此其老化的程度才可显现。当这两个参数通过后,便表示元件基本上良好,再进一步作其他参数的测量,以分辨其中的优劣。可生成器件的I-V特性曲线,曲线上测试点数据可以导出到EXCEL表格。建议进行高温测试,模拟器件使用工况,更为准确的判断器件老化程度。

14)工控机及操作系统
用于控制及数据处理,采用定制化系统,主要技术参数要求如下:
机箱:4Μ 15槽上架式机箱;
支持ATX母板;
CPΜ:INTEL双核;
主板:研华SIMB;
硬盘:1TB;内存4G;
3个5.25”和1个3.5”外部驱动器;
集成VGA显示接口、4个PCI接口、6个串口、6个ΜSB接口等。
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15)数据采集与处理单元
用于数据采集及数据处理,主要技术参数要求如下:
示波器;高压探头:满足表格4-11动态参数、短路电流、安全工作区测试需求
电流探头:满足表格4-11动态参数、短路电流、安全工作区测试需求
状态监测:NI数据采集卡
上位机:基于Labview人机界面
数据提取:测试数据可存储为Excel文件及其他用户需要的任何数据格式,特别是动态测试波形可存储为数据格式;所检测数据可传递至上位机处理;从检测部分传输的数据经上位机处理后可自动列表显示相应测试数据;数据处理和状态检测部分内容可扩展

2.3栅极电荷技术条件
测试参数:
栅极电荷Qg:20nC~100uC
20nC~100nC±5%,分辨率±1nC
100nC~500nC±5%,分辨率±5nC
500nC~2uC±5%,分辨率±10nC
2uC~10uC±5%,分辨率±50nC
10uC~100uC±5%,分辨率±100nC
测试条件:
1、栅极驱动电压:-15V~+15V±3%,分辨率±0.1V
2、集电极电流:50~100A±3%±1A;
100~500A±3%±2A;
500~1000A±3%±5A;
3、集电极电压:50~100V±3%±1V
100~500V±3%±5V
500V~1000V±3%±10V
4、栅极驱动电流:满足5A以下测试要求

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