测试参数多且完整、应用领域更广泛，但只要使用其基本的2项功能：「开启」电流压降，「关闭」电流的漏电流，就可知道大功半导体有没有老化的现象。可移动型仪器，使用方便，测试简单，立即提供测试结果与数值。适用的半导体元件种类多，尤其能测大功率元件。用户能确实掌握新采购元件的质量，避免用到瑕疵或品。完全由计算机控制、的设定参数。适用于实验室和老化筛选的测试。操作非常简单、速度快。完全计
检修用IGBT测试仪现货供应
测试参数多且完整、应用领域更广泛，但只要使用其基本的2项功能：「开启」电流压降，「关闭」电流的漏电流，就可知道大功半导体有没有老化的现象。
可移动型仪器，使用方便，测试简单，立即提供测试结果与数值。
适用的半导体元件种类多，尤其能测大功率元件。
用户能确实掌握新采购元件的质量，避免用到瑕疵或品。
完全由计算机控制、的设定参数。
适用于实验室和老化筛选的测试。
操作非常简单、速度快。
完全计算机自动判断、自动比对。
公司拥有一批长期从事自动控制与应用、计算技术与应用、微电子技术、电力电子技术方面的人才。公司装备精良，具有的检测手段，产品生产严格按照ISO9001∶2008标准质量管理体系运行，其、技术及工艺方面保持国内，部分产品达到国外同类产品的水平。1开通：turnon(tdon,tr,di/dt,Ipeak,Eon,Pon)。
产品广泛应用于电力、冶金自动化、轨道交通、电力电子新能源开发等行业，部分产品出口到欧美等发达。
开通特性测试采用双脉冲测试法。由计算机设定并控制输出集电极电压VCC值到被测器件的测试要求值（一般为被测器件额定电压的1/2），设定±VGG到测试要求值，计算机控制接通开关S1,并控制输出被测双脉冲触发信号，开通和关断被测器件两次，被测器件次开通后，集电极电流IC上升，直至被测器件饱和导通且IC达到测试规定值时，关断被测器件(设为t1时刻)，之后电感L经二极管（Q1内部二极管）续流，IC迅速减小，直至IC降为零时，第二次开通被测器件(设为t2时刻)，此后电感L中的电流向IC转移，IC迅速上升(若L足够大，t1～t2间隔足够短，L中的电流可视为恒流），直至被测器件再次达到饱和导通时(设为t3时刻)，关断被测器件。7测试夹具
1、控制方式：气动控制
2、控温范围：室温—150℃室温—125℃±1。记录下被测器件IC、VCE以及VGE在t2～t3之间的导通波形，其中，VCE采样到示波器的CH1通道，IC取样到示波器的CH2通道，VGE采样到示波器的CH3通道，示波器通过光通讯方式将测试波形传输给计算机，由计算机对测试波形进行分析与计算，后显示测试结果。
6）短路保护放电回路
紧急情况下放电，保证紧急情况时使设备处于安全电位。
回路耐压 DC10kV
放电电流 10kA（5ms）
工作温度 室温～40℃；
工作湿度 <70%
7）正常放电回路
用于设备正常关机时放电，使设备处于安全电位。
回路耐压 10kV
放电电流 50A
工作温度 室温～40℃；
2）集射极截止电压/集射极截止电流测试电路
集射极截止电压/发射极截止电流测试电路
。工作湿度 <70%
8）高压大功率开关
电流能力 2000A
隔离耐压 10kV
响应时间 150ms
脉冲电流 20kA（不小于10ms）
工作方式 气动控制
工作气压 0.4MPa
工作温度 室温～40℃
工作湿度 <70%
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