Phase12 热阻测试仪产自美国 Analysis Tech(Anatech)公司，符合美军标和 JEDEC 标准.
Analysis Tech Inc.成立于 1983 年，坐落于波士顿北部，是电子封装器件可靠性测试的国际设计，制造公司。创始人 John W.Sofia 是美国麻省理工的博士，并且是提出焊点可靠性,热阻分析和热导率理论的. 发表了
漏电检测仪
Phase12 热阻测试仪产自美国 Analysis Tech(Anatech)公司，符合美军标和 JEDEC 标准.
Analysis Tech Inc.成立于 1983 年，坐落于波士顿北部，是电子封装器件可靠性测试的国际设计，制造公司。创始人 John W.Sofia 是美国麻省理工的博士，并且是提出焊点可靠性,热阻分析和热导率理论的. 发表了很多关于热阻测试于分析，热导率及焊点可靠性方面的. Analysis Tech Inc.在美国有独立的实验室提供技术支持. 在全世界热阻测试仪这套设备有几百家客户.
主要用于测试二极管，三极管，线形调压器，可控硅，LED，MOSFET，MESFET ,IGBT，IC 等分立功率器件的热阻测试及分析。
无损检查目视检测范围：1、焊缝表面缺陷检查。检查焊缝表面裂纹、未焊透及焊漏等焊接质量。2、状态检查。检查表面裂纹、起皮、拉线、划痕、凹坑、凸起、斑点、腐蚀等缺陷。3、内腔检查。当某些产品(如蜗轮泵、发动机等)工作后，按技术要求规定的项目进行内窥检测。4、装配检查。当有要求和需要时，使用同三维工业视频内窥镜对装配质量进行检查;装配或某一工序完成后，检查各零部组件装配位置是否符合图样或技术条件的要求;是否存在装配缺陷。5、多余物检查。检查产品内腔残余内屑，外来物等多余物。
热阻电性规格：
加热电流测量精度（低电流测量: 0.2, 1 和2 安培测量）
2A 系统: ±1mA 10A 系统: ±5mA 20A 系统: (±10mA)
加热电流测量精度（高电流测量: 2, 10 和20 安培测量）:
2A 系统: ±4mA 10A 系统: ±20mA 20A 系统: (±40mA)
加热电压测量精度: ±0.25% ，0~30V
热电偶测量精度(T 型): 典型 ±0.1°C
交流电压：220VAC，10A，50/60Hz
器件的测试的供电电压： 20V（标配），其他的是选配。
器件的测试的供电电流： 30A(标配)，选配（100A 200A,400A,800A,1000A及更高电流）
节温的感应电流：1mA, 5mA, 10mA, 20mA, 50mA(标配)，100mA,500mA,1000mA,2500mA是选配。
数据采样频率1MHz
结温精度±0.1°C 分辨率：±0.007°C。
微焦点X射线机的主要技术参数有那些？
- 管电压范围：微焦点X射线管的高压工作范围。
- 大管电流：从阴极到阳极的大电流。
- 大功率：微焦点X射线管的大功率。
- 电子束聚焦能力（焦点）：在给定功率下的焦点尺寸，如：3μm@5W；0.2mm@320W。焦点一般连续可调。
- 细节分辨能力：通常公认的小的细节分辨能力为焦点尺寸的一半。
- 锥束角：在给定窗口直径下的X射线角。如：孔径2mm时，25°。
- 锥束角线均匀度：射线视场强度的均匀性，以百分比表示。
- X射线剂量率稳定性：X射线剂量随时间的变化性，以 百分比/小时 表示。
- 小焦距：通常用焦点到X射线管窗口外表面的距离来表示。
- 靶材料：通常有钨，钼，铜以及其它材料。
- 小高压稳定时间：系统在大电压和大功率模式下，从开机到稳定运行所需的时间。
- 其它参数：重量，尺寸，电源，及温度湿度要求等。
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