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激光测距测高仪的原理

激光测距测高仪一般采用两种方式来测量距离：脉冲法和相位法。脉冲法测距的过程是这样的：测距仪发射出的激光经被测量物体的反射后又被测距仪接收，测距仪 同时记录激光往返的时间。光速和往返时间的乘积的一半，就是测距仪和被测量物体之间的距离。脉冲法测量距离的精度是一般是在+/- 1米左右。另外，此类测距仪的测量盲区一般是5米左右。但是昕锐测距测高仪较可以达到0.1M，测量无盲区 0米起测。

测距测高仪特点

1) 测距能力和精度显著提升:一般条件下可测1900米,对高反射目标,更可达到2500米的量程,量程范围内的精度zui高可达100px.

2)真实目标获取技术:对既定目标可自动获取尽可能更好的精度和距离值.

3)明亮的红色LED光学显示,使其显著提升了明视度;

4)操作简单,可进行单点测距测角、单点测垂直相对高度、两点测跨距、三点测高等功能操作.

5）可进行空间垂直向二维跨距测量:可测空间中垂直向任意不可见两点之间的直线距离(SD)/水平距(HD)/垂直距(VD)/倾斜角(INC)(或坡度)等参数

昕锐测距测高仪实为一款简约全站仪，XR1800C所测数据均为三维的，包括距离，倾斜角，和方位角。每测一次数据，距离，倾斜角和方位角等数据可同时测出来，通过功能切换键都可以查看。

测距测高仪来源

1969年，Hildebrand和Haines从相干光学的观点出发，提出了一种采用双波长光源的全信息等高技术。它可以在物体上生成等高线，等高线的分辨率取决于光源波长，且不能任意变化。Hildebrand和Haines提出的另一种方法是由两个具有不同波长的点光源产生的干涉条纹在物体上生成等高线，与种方法相比，第二种方法产生的等高线图的分辨率可以从波长级变化到忽米级。对于双光源系统来说，其主要问题是，若物体上有一些“漩涡花样”，特定区域将不能清晰地描绘出全息等高图。相关测量法对测量环境要求极高，一般只能在实验室条件下测量，且不易于实现自动化。

测距测高仪测量模式