品位控制对精矿、矿渣、矿尾等矿物品位进行分析，为矿物贸易、加工以及矿渣、尾矿再利用提供价值判断依据。——环境分析对矿石周围环境、尾矿、粉尘、土壤污染等进行分析与检测，评估矿石环境修复效果。可分析元素S,K,Ca,Ba,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,As,Se,Rb,Sr,Zr,Nb,Mo,Pb,Ag,Cd,Sn,Sb,Hf,Ta,W,Re,Pb,Bi,
EDX-9000B真空型矿石元素分析仪
品位控制对精矿、矿渣、矿尾等矿物品位进行分析，为矿物贸易、加工以及矿渣、尾矿再利用提供价值判断依据。——环境分析对矿石周围环境、尾矿、粉尘、土壤污染等进行分析与检测，评估矿石环境修复效果。可分析元素S,K,Ca,Ba,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,As,Se,Rb,Sr,Zr,Nb,Mo,Pb,Ag,Cd,Sn,Sb,Hf,Ta,W,Re,Pb,Bi,Cs,Te,U,Th,Hg,Sc，Au，Mg,Al,Si,P,Cl(共43种)
轻便矿石分析仪在地质勘探、矿山测绘、矿石分选、品位鉴定、矿产贸易、金属冶炼以及环境监测等领域有着广泛的应用。——分析矿种：涵盖从Mg至U之间的金属、非金属、贵重金属和稀有金属矿等。——分析样品：矿体、矿块、矿渣、矿粉、粗矿、精矿、尾矿、土壤、泥土、泥浆、灰尘、粉尘、过滤物、薄膜、废水、废油、液体样品—— 分析元素：可以分析12号元素Mg至92号元素U之间的金属元素、非金属元素、贵金属元素、以及稀有金属元素等，可根据实际需要选择分析元素。
>美国AmpTek -SDD探测器, 高分辨率高计数率
>真空测试环境提供轻元素检测效果
>无损元素分析涵盖11Na to 92U
>适应各种复杂矿物样品测试，固体，液体，合金，粉末和泥浆
>多组合滤光片系统，有效提高微量元素检出限
>坚固的设计适用于于各种复杂而严苛的现场工作环境
我们使用EDX9000B矿石分析仪对磁铁矿进行了多次测定，下图是含量范围和精密度标准偏差结果。
X射线光谱现场分析技术是采用现场X射线光谱仪在采样现场对待测目标体中元素进行地定性和定量分析技术, 又称为现场X射线荧光矿石分析仪。 根据现场分析的应用场景与采样方法, X射线光谱现场分析可分为X射线光谱现场原位分析和X射线光谱现场取样分析。 现场原位分析是指将X射线光谱分析仪的探测窗直接置于岩(矿)石露头或土壤或其他待测物料的表面, 在现场原生条件下获取待测目标体中元素种类和元素含量的分析方法; 现场取样分析是指对待测目标体进行样品采集
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