测量范围大于25mm的深度千分尺，要用校对量具(可以用量块代替)校对零位：把校对量具和平台的工作面擦净，将校对量具放在平台上，再把深度千分尺的基准面贴在校对量具上校对零位。
使用深度千分尺测量盲孔、深槽时，往往看不见孔、槽底的情况，所以操作深度千分尺时要特别小心、切忌用力莽撞。
当被测孔的口径或槽宽大于深度千分尺的底座时，可以用一辅助定位基准板进行测量。
深度千分尺检测方法
测量范围大于25mm的深度千分尺，要用校对量具(可以用量块代替)校对零位：把校对量具和平台的工作面擦净，将校对量具放在平台上，再把深度千分尺的基准面贴在校对量具上校对零位。
使用深度千分尺测量盲孔、深槽时，往往看不见孔、槽底的情况，所以操作深度千分尺时要特别小心、切忌用力莽撞。
当被测孔的口径或槽宽大于深度千分尺的底座时，可以用一辅助定位基准板进行测量。
长度检测
校对千分尺的零位。校对方法是:用干净的软质砂布或绸布擦净千分尺的两测量面，当两测量面快要接触时，改为轻轻旋转测力装置使两测量面轻轻接触，当发出“咔咔”的响声时方可进行读数。如果微分筒上的棱边与固定套筒上的“0”刻线重合，同时微分筒上“0”刻线对准固定套筒上的纵刻线(即微分筒锥面的端面与固定套筒的“0”刻线的右边缘正好相切)，这说明“0”位正确。三、数显卡尺使用一段时间后（约3-6个月），如发现侧向间隙明显增大，则需仔细调整尺框上侧边的二个孔内的调整螺钉，以消除间隙。
任何一个非整数，如9.84mm，都可以分解为以下两种“整数位+小数位”的形式：9.5mm+0.34mm或10mm-0.16mm。活动套筒刻线相对于中心基准线逆时针向外旋出尺寸越来越大，顺时针向内旋入尺寸越来越小，那么如9.84mm就可以先找到9.5mm整数位后，再相对于中心基准线向外旋出增大34格(0.34mm)即是9.84mm，或者找到10mm整数位后再相对于中心基准线向内旋入减小16格(0.16mm)也是9.84mm。按被测尺寸调节外径千分尺时，要慢慢地转动微分筒或测力装置，不要握握住微分筒子挥动或摇转尺架，以致使精密测微螺杆变形。
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