超清工业显微镜已经升级为4K产品，其型号为;LY-WN-YC400，为4K技术显示的超清显微镜，其光学性能和视频成像显示技术均得到进一步提升，是对有较高要求的客户。苏州特斯特电子科技有限公司，主要从事各类测试、检测仪器设备的代理销售和技术服务，产品涵盖电子元器件，电路板，线缆线束的测试与检测。设备主要来自于欧美日等测试设备制造。
虽然超声波扫描显微镜与普通
EMMI微光显微镜
超清工业显微镜已经升级为4K产品，其型号为;LY-WN-YC400，为4K技术显示的超清显微镜，其光学性能和视频成像显示技术均得到进一步提升，是对有较高要求的客户。苏州特斯特电子科技有限公司，主要从事各类测试、检测仪器设备的代理销售和技术服务，产品涵盖电子元器件，电路板，线缆线束的测试与检测。设备主要来自于欧美日等测试设备制造。
虽然超声波扫描显微镜与普通的光学显微镜有着诸多的不同点，但是它们也各司其职，并无优劣之分，在不同领域只需要根据使用情况酌情选择即可，由于超声波扫描显微镜在线下较为少见，因此许多企业对于该种显微镜理解上具有局限性，所以要增加对超声波扫描显微镜的详情了解。苏州特斯特电子科技有限公司，主要从事各类测试、检测仪器设备的代理销售和技术服务，产品涵盖电子元器件，电路板，线缆线束的测试与检测。设备主要来自于欧美日等测试设备制造。
对于故障分析而言，微光显微镜(Emission Microscope, EMMI)是一种相当有用且效率极高的分析工具。主要侦测IC内部所放出光子。在IC元件中，EHP(Electron Hole Pairs) Recombination会放出光子(Photon)。举例说明：在P-N 结加偏压，此时N阱的电子很容易扩散到P阱，而P的空穴也容易扩散至N然後与P端的空穴（或N端的电子）做 EHP Recombination。
微光显微镜侦测得到亮点之情况：会产生亮点的缺陷 - 漏电结（Junction Leakage）; 接触毛刺（Contact spiking）; （热电子效应）Hot electr;闩锁效应（ Latch-Up）;氧化层漏电（ Gate oxide defects / Leakage(F-N current)）;多晶硅晶须（Poly-silicon filaments）; 衬底损伤（Substrate damage）; （物理损伤）Mechanical damage等。原来就会有的亮点 - Saturated/ Active bipolar transistors; -Saturated MOS/Dynamic CMOS; Forward biased diodes/Reverse；biased diodes(break down) 等。
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