连接器电接触——各个导电件处于紧密地机械接触状态，对两个方向的电流能提供低电阻通路； 接触件——元件内的导电体，它与对应的导电件相插合提供电通路（提供电接触）： 弹性接触件——能对插合的零件产生压力具有弹性的接触件；连接器——通常装接在电缆或设备上，供传输线系统电连接可分离元件（转接器除外） 射频同轴连接器转接器——连接两根带有不能直接插合连接器传输线的两端口装置；无极性连接器
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连接器电接触——各个导电件处于紧密地机械接触状态，对两个方向的电流能提供低电阻通路； 接触件——元件内的导电体，它与对应的导电件相插合提供电通路（提供电接触）： 弹性接触件——能对插合的零件产生压力具有弹性的接触件；连接器——通常装接在电缆或设备上，供传输线系统电连接可分离元件（转接器除外） 射频同轴连接器转接器——连接两根带有不能直接插合连接器传输线的两端口装置；无极性连接器——能与本身等同的连接器相插合的连接器；类型——表征连接器对的与结构和尺寸有关的具体插合面和锁紧机构的术语； 品种——表示同一类型的具体型式、形状以及组合。自由端连接器和固定连接器，直式连接器和直角连接器，同类型内直角和直角转换器；射频同轴连接器规格——表示品种在特定细节方面的变化，如电缆入口处尺寸的变化； 等级——连接器在机械和电气精密度方面特别是在规定的反射系数方面的水平。
射频同轴连接器通常被认为是装接在电缆上或安装在仪器上的一种元件，作为传输线电气连接或分离的元件。属于机电一体化产品。简单的讲它主要起桥梁作用。射频同轴连接器在使用过程中存在反射失效的情况，究其原因可能是以下几点造成
1、反射增大
任何一种连接器都有一定的使用寿命。以SMA 连接器为例，美军标和我国军标规定其寿命为500次。这是因为当连接器经长期使用，反复插拔超过500次后，插针、插孔已造成不同水平的磨损，接触已不是较好状态，所以在使用时，反射可能急剧增加。许多用户较多的从经济角度考虑，把应报废的连接器仍然使用。这种做法是不可取的因为逾越使用寿命的连接器性能已明显下降，苦不及时更换新的连接器是难以保证测试精度和数据的可信的。
2、开路
以往的工作中发现个别用户把N型50Ω插头误连到N型75Ω插座上。由于50Ω插针直径远大于75Ω插孔尺寸，致使插孔尺寸逾越弹性极限，不能恢复到原来尺寸。他人再次使用发现开路，原来75Ω插座的插孔已损坏。
3、短路
过去我测试密封连接器时，发现少数连接器电压驻波比很大，个别的全反射。经反复仔细检查，此密封连接在焊接内导体时，焊锡流到玻璃绝缘子表面，造成全部或局部短路，使性能不合格。
射频同轴连接器是连接电器线路的机电元件，起到使传输线电气连接或断开的作用，属于失效机理较为复杂的一种机电一体化产品。
射频同轴连接器通常被认为是装接在电缆上或安装在仪器上的一种元件，作为传输线电气连接或分离的元件。属于机电一体化产品。简单的讲它主要起桥梁作用。
同其它电子元件相比，RF连接器的发展史较短。1930年出现的UHF连接器是早期的RF连接器。二次大战期间，由于急需，随着雷达、电台和微波通信的发展，发生了NCBNCTNC等中型系列，1958年后呈现了SMA SMBSMC等小型化产品，1964年制定了美国规范MIL-C-39012射频同轴连接器总规范》从此，RF连接器开始向标准化、系列化、通用化方向发展。
在无线通信领域微波射频测试电缆是一种常用高精密的系统测试耗材，与测试仪器配套连接使用，微波器件*常见的有Agilent，Anrisu等的矢量网络分析仪以及扫频仪等。任何一个DUT都位于信号发生器和分析仪之间，而连接DUT和仪器之间的桥梁就是测试附件或测试系统。千万不要忽视这些测试附件，有条件时，好能固化这些测试附件使之成为一个标准化的测量系统。仪器供应商在提供整机时，多会提供到与仪器的*高工作频率所相符的测试电缆。而在真正的测试过程中，会遇到各种不同的情况而需要采用不同的附件，所有这些附件都会影响到测量结果的准确性，这就需要测试者对相关的测试附件有深入的了解。
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