台式扫描电镜(SEM)可以节省大量时间由于其尺寸较小，台式扫描电镜(SEM)更加便携，可任意放置在实验室中；与传统的落地式扫描电镜相比，台式扫描电镜(SEM)不需要过多的设置时间和维护；台式扫描电镜(SEM)更快，与传统的落地式扫描电镜相比，它将加载时间缩短；因此，台式扫描电镜(SEM)是一种更实惠，更小型，更便捷的扫描电镜，并且，研究人员可以自己操作，更易于管理，这对于操
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台式扫描电镜(SEM)可以节省大量时间
由于其尺寸较小，台式扫描电镜(SEM)更加便携，可任意放置在实验室中；与传统的落地式扫描电镜相比，台式扫描电镜(SEM)不需要过多的设置时间和维护；台式扫描电镜(SEM)更快，与传统的落地式扫描电镜相比，它将加载时间缩短；因此，台式扫描电镜(SEM)是一种更实惠，更小型，更便捷的扫描电镜，并且，研究人员可以自己操作，更易于管理，这对于操作员来说可以节省大量时间。
对于粉末样品的制备应注意以下几点
对于导电的粉末样品，应先将导电胶带黏结在样品座上，再均匀地把粉末样撒在上面，用洗耳球吹去未黏住的粉末，即可用电镜观察。对不导电或导电性能差的，要再镀上一层导电膜，方可用电镜观察。为了加快测试速度，一个样品座上可以同时制备多个样品，但在用洗耳球吹未黏住的粉末时，应注意不要样品之间相互污染。
对于粉末样品的制备应注意以下几点:
A、尽可能不要挤压样品，以保持其自然形貌状态。
B、特细且量少的样品，可以放于乙醇或者合适的溶剂中用超声波分散一下，再用毛细管滴加到样品台上的导电胶带上(也可用牙签点一滴到样品台上)，晾干或强光下烘干即开。
C、粉末样品的厚度要均匀，表面要平整，且量不要太多，1g左右即可，否则容易导致粉末在观察时剥离表面，或者容易造成喷金的样品的底层部分导电性能不佳，致使观察效果的对比度差。
EDS能谱分析是当X射线光子进入检测器后
EDS能谱分析是当X射线光子进入检测器后，在Si晶体内激发出一定数目的电子空穴对。产生一个空穴对的低平均能量ε是一定的（在低温下平均为3.8ev），而由一个X射线光子造成的空穴对的数目为N=△E/ε，因此，入射X射线光子的能量越高，N就越大。利用加在晶体两端的偏压收集电子空穴对，经过前置放大器转换成电流脉冲，电流脉冲的高度取决于N的大小。电流脉冲经过主放大器转换成电压脉冲进入多道脉冲高度分析器，脉冲高度分析器按高度把脉冲分类进行计数，这样就可以描出一张X射线按能量大小分布的图谱。
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