大型led积分球—————广州航鑫光电科技有限公司，是专门做积分球光源、积分球测试的
CIE 推荐下列人造光源来实现标准照明体的规定：
标准光源 A ：色温为 2856K 的充气螺旋钨丝灯，其光色偏黄。
标准光源 B ：色温为 4874K ，由 A 光源加罩 B 型 D-G 液体滤光器组成。光色相当 于中午日光。
标准光源 C ：色温为 6774K ，由
大型led积分球
大型led积分球—————广州航鑫光电科技有限公司，是专门做积分球光源、积分球测试的
CIE 推荐下列人造光源来实现标准照明体的规定：
标准光源 A ：色温为 2856K 的充气螺旋钨丝灯，其光色偏黄。
标准光源 B ：色温为 4874K ，由 A 光源加罩 B 型 D-G 液体滤光器组成。光色相当 于中午日光。
标准光源 C ：色温为 6774K ，由 A 光源加罩 C 型 D-G 液体滤光器组成，光色相当 于有云的天空光。
CIE 标准照明体 A 、 B 、 C 由标准光源 A 、 B 、 C 实现，但对于模拟典型日光的标准照明体 D65 ，目前 CIE 还没有推荐相应的标准光源。因为它的光谱能量分布在目前还不能由真实的光源准确地实现。当前国际上正在进行着与标准照明体 D65 相对应的标准光源的研制工作。
现在研制的三种模拟 D65 人造光源分别为：带滤光器的高压氙弧灯、带滤光器的白炽灯和荧光灯。它们的相对光谱能量分布与 D65 有所符合，带滤光器的高压氙弧灯提供了的模拟，带滤光器的白炽灯在紫外区的模拟尚不太理想，荧光灯的模拟较差。为了满足精细辨色生产活动的需要，还有采用荧光灯和带滤器的白炽灯组成的混光光源，称为 D75 光源。其色温可达 7500K 。主要运用在原棉评级等精细辨色工作中。
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辐射定标光源AvaLight-DH-CAL是一款光谱范围覆盖紫外/可见/近红外波段（200-1099 nm）的辐射定标光源。这款NIST可溯源定标光源适用于所有AvaSpec光谱仪，可用于测量光谱强度。
AvaLight-DH-CAL包括一个内置的漫射器和一个带SMA适配器的余弦校正器CC-UV/VIS-CAL和存有定标文件（ASCII格式）的光盘。
光盘中包括两个定标文件，都是带余弦校正器的定标文件。一个定标文件用于对全波段范围内（200-1099 nm）的辐射定标，此时在定标过程中，和卤钨灯都需要打开。另一个定标文件用来对可见/近红外波段（350-1099 nm）进行辐射定标。此时只需打开卤钨灯，并可以在656nm和更长的波长范围内给出更加平滑和稳定的输出。做为选项还提供近红外（1100-2500nm）波段的扩展定标服务。
定标文件可以用AvaSoft-IRRAD应用软件读取，该软件可以使您的光谱仪系统做为辐射度计使用。
作为一种特殊型号的定标光源，AvaLight-DH-CAL-ISPXX的光源可以把AvaSphere-XX-IRRAD积分球与其耦合起来（XX=30，50，80mm）。
AvaLight-DH-CAL不能用做照明光源进行光谱吸收、透过和反射测量。
技术数据 波长范围：200-1099 nm / 1100-2500 nm*
定标可重复性± 1.0%
积分球式均匀光源系统（定标和校准应用）
积分球, 均匀光源 均匀光源系统除了太阳光模拟器，还有积分球式的均匀光源系统，后者主要应用在定标领域，当然一些小的积分球也应用在光谱测量方面，如ASD光谱仪器配的积分球可以完成叶片光谱测量，分光光度计里面的积分球完成反射率的测量。 积分球也叫光通球，是一个中空的，内壁涂一层平整的漫反射材料的完整球壳，其典型的功能就是收集光，收集的光被用作一个散射光源或作为测量用，积分球可以实现均匀的朗伯体漫散射光源输出，整个输出口表面的亮度非常均匀，同时对于不同市场的亮度也是均匀的。
积分球均匀光源可用于生物、微光成像及定量测量校准；实验室内的成像系统、器件的校正：大口径、小口径航天遥感遥测探测系统均匀性校正；胶片/数码照相机/摄像机均匀性校正；校正CCD 面阵探测器的均匀性, 光谱响应特性；LED测量、灯具测量。遥感科学重点实验室的积分球式均匀光源系统为蓝菲光学的XTH2000C，光源为卤素灯和氙灯组成的组合光源，亮度范围为0~7000cd/m2，光谱范围为350nm~2400nm，积分球的直径为20inch，开口直径为8inch，内涂层反射率在400~1100nm内大于99%，辐亮度均匀度为98%，色温在3299K~6000K。配合可变衰减器的调节功能，可以实现从0到辐亮度的连续调节。
积分球辐射光源照度均匀性研究
针对CCD等焦面阵列光电器件常被置于积分球辐射光源出口平面进行测试的误区，研究了积分球辐射光源照度分布的均匀性，得到了合理使用积分球光源测试光电器件的依据。
积分球作为一种光学仪器在光度学与辐射度学等相关领域已经广泛使用近百年了。在众多研究应用中，积分球常作为均匀辐射光源来测试CCD或CMOS等焦面阵列光电器件。
然而，由于积分球在实际制造安装过程中，积分球壳加工制造、内部挡屏几何位置、漫反射涂层实际厚度、内部光源几何位置等各种因素的影响，使得实际积分球辐射光源开口处照度均匀性很不理想。
另一方面，航天、天文等领域使用的科学级CCD常需要在较低温度下工作，若在积分球口进行器件的测试工作，积分球内部光源的发热问题会对器件造成不可忽视的影响。因此，依旧按照理想情况在积分球光源出口处进行光电器件的测试是不合适的。本文针对这一误区，着重讨论了与积分球辐射光源不同距离处光电器件受光面上照度分布的均匀性，基于理论分析和实验测试得到了与积分球辐射光源不同距离处光电器件受光面上照度均匀性分布规律。
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