蔡司三坐标测量仪价格承诺守信「北京一测」

蔡司三坐标测量机

作为一款通用型测量工具，SPECTRUM沿袭了ZEISS成熟的测量设计理念，进行合理的软硬件搭配，造就了产品的质量

重要特征：

1、超硬铝制部件保证了整体桥架结构的长期稳定性

2、采用零膨胀玻璃陶瓷材料光栅尺，大大降低了温度变化对测量结果的不利影响

3、高度集成的动态C99控制柜，保证了测量过程的稳定

4、双操纵杆数字式控制面板，人体工学设计，操作简便，内嵌LED显示，信息丰富

接触式测头与光学测头

近年来流行着一些带有误导性的宣传，导致部分用户对光学测头有过高的期待，例如“用光学测头一扫，零件的所有尺寸都出来了”等等，这对光学测头实际上存在很大的误解。从目前的状态来说，接触式与光学测头之间主要是相互补充的关系，而非竞争。三维光学测头有不同的分类，比如点光源、线光源、面光源，不同的测头其应用场合有显著区别。我们将光学测头的应用大致分成两类：表面数字化和三维测量。

三坐标测头

光学测头相比接触式测头还有另一方面的优势。接触式测头采点时，测头记录的是测球中心的空间坐标，然后根据测球半径来进行补偿，得出实际点的坐标。但当测量特定位置的三维曲线时，如果不按照测点的法线方向去采点，会存在半径补偿余弦误差;而如果按照测点的法线方向去采点，又会产生实际测点位置出现偏差的情况。这种情形在测量透平叶片时尤为常见。