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CT检测发展
一代CT使用单源(一条射线)单探测器系统,系统相对于被检物作平行步进式移动扫描以获得N个投影值(1值),被检物则按M个分度作旋转运动,被检物仅需转动180%。代CT机结构简单、成本低、图像清晰,但检测效率低,在工业CT中已经很少采用。
二代CT是在第代CT基础上发展起来的。使用单源小角度
射线CT检测机构
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视频作者:钢研纳克检测技术股份有限公司
CT检测发展
一代CT使用单源(一条射线)单探测器系统,系统相对于被检物作平行步进式移动扫描以获得N个投影值(1值),被检物则按M个分度作旋转运动,被检物仅需转动180%。代CT机结构简单、成本低、图像清晰,但检测效率低,在工业CT中已经很少采用。
二代CT是在第代CT基础上发展起来的。使用单源小角度扇形射线束多探头,射线扇束角小、探测器数目少,因此扇束不能全包容被检断层,其扫描运动除被检物作M几个分度旋转外,射线扇束与探测列架还要一起相对于被检物作平移运动。在至全都覆盖被检物,得到所需的成像数据。
CT检测面探测器
面探测器主要有三种类型:高分辨半导体芯片、平板探测器和图像增强器。半导体芯片又分为CCD和CMOS。CCD对X射线不敏感,表面还要覆盖一层闪烁体将X射线转换成CCD敏感的可见光。
半导体芯片具有小的像素尺寸和大的探测单元数,像素尺寸可小到10微米左右,探测单元数量取决于硅单晶的大尺寸,一般直径在50mm以上。因为探测单元很小,信号幅度也很小,为了增大测量信号可以将若干探测单元合并。
CT检测X射线管发出的X射线能谱
低能射线部分其实并不能很好地穿透材料,或是根本不能。反而,低能射线会引起“射线硬化”而极大地损害图像质量。这一现象在扫描较“重”或是厚度较大的材料是尤为严重。为了除去射线中的低能部分,会在工件之前放置射线过滤片。过滤片的作用是阻挡低能射线,但同时会降低图像的亮度。如果X射线管不能提供足够的功率,那就不得不牺牲图像的亮度或是忍受较高的图像噪声,从而降低扫描质量。这样的话高功率射线管带来的好处就显而易见了,高品味的X射线可以通过过滤来获得,同时又不降低图像亮度,从而保证了能够得到较高的扫描质量。
CT检测X射线管
X射线管的设计有两种形式:开放管和闭合管。开放管顾名思义是开放式的,“这种技术要求在射线管内建立一定的真空度,利用两级真空泵不间断地运行来维持真空。”在这个过程中,大量的热量从射线管被转移到工作舱内。在某型情况下,工作舱内的温度甚至可高达60~70℃。而在闭合管上,热量由于被封闭在管内,不容易转移到工作舱内。而进一步配以合适的冷却系统(根据功率高低采用空冷或液冷),这一问题会得到较好的解决。所以
当选择X射线管形式时,要注意几个方面的因素,其中一个便是射线管的热量传导。
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