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C扫描腐蚀成像检测可选择以下两种扫查器
1、R型扫查器：(1)单轴手动编码器，使用方便。(2 )扫查架轻便小巧，探头组合方便更换。(3)可测量缺陷的自身高度，实现缺陷的跟踪、 监控。2、半自动扫查器:(1)方便驱动双轴自动扫查器，进行一定区域内的半自动扫查。(2)了探头保持架可对曲面进行一定量的跟踪功能。(
超声波C扫描检测公司
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视频作者：钢研纳克检测技术股份有限公司
C扫描腐蚀成像检测可选择以下两种扫查器
1、R型扫查器：(1)单轴手动编码器，使用方便。(2 )扫查架轻便小巧，探头组合方便更换。(3)可测量缺陷的自身高度，实现缺陷的跟踪、 监控。2、半自动扫查器:(1)方便驱动双轴自动扫查器，进行一定区域内的半自动扫查。(2)了探头保持架可对曲面进行一定量的跟踪功能。(3)B-扫描和B-扫描可以提供C-扫描图像上任何位置正交两个断面的深度信息。相应的A-扫描也可以显示在同一屏幕上。(4)全波形记录功能，可在生成的C-扫描图像上察看任意位置上的A-扫描波形。的检测方法，符合*新版的ASME规范要求。(5)定位定量准确。(6)B实时成像。(7)可实现任意一点的波形回放。
纳克无损C扫描检测蓬勃发展
今年纳克无损在无损计量校准及评价业务板块继续加大投入，与质量基础建设（NQI）战略发展相适应，不断扩充校准设备及校准能力。主要涉及无损检测仪器、探头、对比试样的校准服务和为国内企业提供各类自动化无损检测系统综合性能的测试、评价和认证服务。
随着无损检测技术发展，不断涌现出新的无损检测仪器（比如：相控阵、TOFD、空气耦合等）和检测方法（红外检测、超声应力测试等），为了解决测量的准确性，需要对其进行计量校准，纳克不断扩充校准规范，不仅局限于检定规程和校准规范，还扩充了ISO/EN/ASTM等标准，进一步扩大能力范围.
C扫描检测
超声C扫描成像探伤系统POCKET UT是世界上基于PDA的手持式超声A/B/C/TOFD扫描检测系统。它集现代数字超声技术、超声图像处理技术及PDA技术于一身。具有如下主要功能：带有测厚功能及大容量波形记录的数字超声波探伤仪
适用于腐蚀测厚及材料内部探伤的C-扫描功能
用于焊缝检测的TOFD功能
该系统配置灵活，允许客户一步配置到位，也可根据实际情况分步配置，先基本配置，再升级配件及功能。不但节省资金，更可灵活配置
无损探伤检测工业C扫描检测
（1）C扫描检测对铸件的检测具有很高的分辨率，是目前准确，可靠的无损评估方法之一；
（2）三维成像检测可以观察铸件内部缺陷的空间形状，实现任意截面密度和内部结构尺寸的测量，解决了两者的扫描断层方向和断层不连续性的局限性体层析成像。一种非常重要的计算机辅助评估方法。
（3）解决了与原型的接口问题，从而实现了在逆向工程中的应用，缩短了航天模具的设计，产品开发和生产周期。
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钢研纳克检测技术股份有限公司
刘经理(True) / |
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