检测铬与其他金属的能力方面有著非常优越的表现。本机可使用光元素分析程式来分析磷、硫、氯、钾、钙等金属成份。·使用了的和多用途的x射线资料模式：采用康普顿常态化校正方法：可以利用“内部标准”来进行定量分析，而不需要进行专门的校正。基本参数：采用半定量分析方式，适合于检验各种不同元素的构成的结构密度不均匀的样品。实验校正法：利用“校正曲线”进行校正，允许使用用户产生的校正曲线。
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检测铬与其他金属的能力方面有著非常优越的表现。本机可使用光元素分析程式来分析磷、硫、氯、钾、钙等金属成份。·使用了的和多用途的x射线资料模式：采用康普顿常态化校正方法：可以利用“内部标准”来进行定量分析，而不需要进行专门的校正。基本参数：采用半定量分析方式，适合于检验各种不同元素的构成的结构密度不均匀的样品。实验校正法：利用“校正曲线”进行校正，允许使用用户产生的校正曲线。
分辨率：1.2nm @15kv，2.2nm @1kv（非样品台偏压模式） 放大倍数：10X—1000000X，连续可调 加速电压：20v-30kv，连续可调 样品台移动范围：X=Y=120mm，Z=50mm 能谱探测器：SDD硅漂移电制冷探测器 能量分辨率：MnKa优于127eV 元素分析范围：Be4—Cf98。 [1] 主要功能编辑 播报采用ET二次电子探测器、In-Iens二次电子探测器、HDBSD背散射探测器和能谱探测器分别对信号进行检测、放大、成像，用于各种微观形貌及成分分析。
X射线是一种波长较短的电磁辐射，通常是指能量范围在0.1~100keV的光子。X射线与物质的相互作用主要有荧光、吸收和散射三种。X射线荧光是由物质中的组成元素产生的特征辐射。当高能电子束照射样品（靶材）时，入射高能电子被样品中的电子减速，这种带点粒子的负的加速度会产生宽带的连续X射线谱，简称为连续谱和韧致辐射。然后化学元素受到连续X射线谱的照射，内层电子被激发，驱逐一个内层电子形成空穴，原子处于不稳定状态。
磁铁矿：FeO 31.03%，Fe2O3 68.97%或含Fe 72.2%，O27.6%，等轴晶系。单晶体常呈八面体，较少呈菱形十二面体。在菱形十二面体面上，长对角线方向常现条纹。集合体多呈致密块状和粒状。颜色为铁黑色、条痕为黑色，半金属光泽，不透明，具强磁性。
磁铁矿中常有相当数量的Ti4+以类质同象代替Fe3+，还伴随有Mg2+和V3+等相应地代替Fe2+和Fe3+，因而形成一些矿物亚种，即：
(1)钛磁铁矿 Fe2+(2+x)Fe3+(2-2x)TixO4(0＜x＜1)，含TiO212%？16%。常温下，钛从其中分离成板状和柱状的钛铁矿及布纹状的钛铁晶石。
(2)钒磁铁矿 或Fe2+(Fe3+V)O4，含V2O5有时高达68.41%？72.04%。
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