VP或EP模式,可以直接观察不导电材料或动植物样品VP或EP模式，可以直接观察不导电材料或动植物样品。因为样品室的真空度不太高，仍然有大量的气体分子存在，入射电子和信号电子把样品附近的气体分子，诸如O、N电离，这些离子在附加电场作用下向样品运动，中和表面积累的电子，消除荷电现象，选用较高的加速电压仍然可以正常工作。此外，样品制备简单，可适合观察放气样品，适合对非导电样品直接
双束扫描电镜测试中心
VP或EP模式,可以直接观察不导电材料或动植物样品
VP或EP模式，可以直接观察不导电材料或动植物样品。因为样品室的真空度不太高，仍然有大量的气体分子存在，入射电子和信号电子把样品附近的气体分子，诸如O、N电离，这些离子在附加电场作用下向样品运动，中和表面积累的电子，消除荷电现象，选用较高的加速电压仍然可以正常工作。此外，样品制备简单，可适合观察放气样品，适合对非导电样品直接进行成分检测。
扫描电子显微镜是一种用于高分辨率微区形貌分析的大型精密仪器，它是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。目前，扫描电镜已被广泛应用于生命科学、物理学、化学、、地球科学、材料学以及工业生产等领域的微观研究。
扫描电子显微镜(scanningelectronmicros
扫描电子显微镜（scanning electron microscope，简称扫描电镜/SEM）的基本组成是透射系统、电子系统、电子收集系统和观察记录系统，以及相关的电子系统。现在公认的扫描电镜的概念是由德国的 Knoll在1935年提出来的，1938年Von Ardenne在投射电镜上加了个扫描线圈做出了扫描透射显微镜（SEM）。
由于扫描电镜可以利用多种物理信号对样品进行综合分析，并具有直接观察较大样品、放大范围广、景深大的特点，当陶瓷材料处于不同的外部条件和化学环境时，扫描电子显微镜在其微观结构分析和研究方面也显示出很大的优势。
扫描电子显微镜可以清楚地反映和记录这些微观特征
在陶瓷的制备过程中，原始材料及其制品的微观形貌、孔径、晶界和团聚程度将决定其性能。扫描电子显微镜可以清楚地反映和记录这些微观特征。是一种方便、简便、有效的观察和分析样品微观结构的方法。样品无需制备，放入样品室即可直接放大观察；同时，扫描电子显微镜可以实现测试。对于样品从低倍到高倍的定位和分析，样品室中的样品不仅可以沿三维空间移动，还可以根据观察需要在空间中旋转，便于连续、系统地进行用户对感兴趣的部分进行观察和分析。扫描电镜拍摄的图像真实、清晰、立体感十足，已广泛应用于新型陶瓷材料三维微观结构的观察和研究。
电子显微镜用于聚焦电子
电子透镜用于聚焦电子，是电子显微镜镜筒中很重要的部分。 一般使用磁透镜，有时也使用静电透镜。它利用与镜筒轴对称的空间电场或磁场，使电子轨迹向轴弯曲，形成焦点。其作用与光学显微镜中的光学透镜（凸透镜）一样，使光束聚焦，故称为电子透镜。光学镜头的焦点是固定的，而电子镜头的焦点是可以调节的，因此电子显微镜没有光学显微镜那样的可移动镜头系统。大多数现代电子显微镜都使用电磁透镜，电子被非常稳定的直流激励电流通过带极靴的线圈产生的强磁场聚焦。电子源由释放自由电子的阴极、栅极和以环形加速电子的阳极组成。阴极和阳极之间的电压差需要很高，一般在几千伏到三百万伏之间。它能以均匀的速度发射并形成电子束，因此加速电压的稳定性不万分之一。
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