电容位移传感器测量轴瓦厚度滑动轴承常见失效电容位移传感器测量轴瓦厚度
滑动轴承常见失效形式有：
1.瓦面腐蚀：光谱分析发现有色金属元素浓度异常；谱中出现了许多有色金属成分的亚微米级磨损颗粒。
2.轴颈表面腐蚀：光谱分析发现铁元素浓度异常，铁谱中有许多铁成分的亚微米颗粒。
3.轴颈表面拉伤:铁谱中有铁系切削磨粒或黑色氧化物颗粒，金属表面存在回火色。
4.瓦背微动磨损:光谱分析发现铁浓
位移传感器价格
电容位移传感器测量轴瓦厚度滑动轴承常见失效
电容位移传感器测量轴瓦厚度
滑动轴承常见失效形式有：
1.瓦面腐蚀：光谱分析发现有色金属元素浓度异常；谱中出现了许多有色金属成分的亚微米级磨损颗粒。
2.轴颈表面腐蚀：光谱分析发现铁元素浓度异常，铁谱中有许多铁成分的亚微米颗粒。
3.轴颈表面拉伤:铁谱中有铁系切削磨粒或黑色氧化物颗粒，金属表面存在回火色。
4.瓦背微动磨损:光谱分析发现铁浓度异常，铁谱中有许多铁成分亚微米磨损颗粒。
5.轴承表面拉伤：铁谱中发现有切削磨粒，磨粒成分为有色金属。
6.瓦面剥落：铁谱中发现有许多大尺寸的疲劳剥落合金磨损颗粒、层状磨粒。
7.轴承烧瓦：铁谱中有较多大尺寸的合金磨粒及黑色金属氧化物。
综上所述，轴瓦的整体厚度必须控制在一定范围内，以确保日后使用过程中，轴瓦与轴颈之间的良好润滑，避免不正常的机械接触。目前国际轴瓦厂商都在对轴瓦的厚度进行精密检测。成熟的测量方法是采用电容型位移传感器，两两正对安装，在不同位置测量轴瓦的厚度，并将测量值进行比较分析，以求剔除不合格的轴瓦部件。
采用电容位移传感器可以达到亚微米的精度，且测量稳定性非常高。德国米铱公司提供的capaNCDT65xx系列被广泛应用于轴瓦厚度测量领域，精度可达亚微米级别，获得了客户的高度评价。
光谱共焦位移传感器原理
光谱共焦位移传感器原理
1940年，医生HansGoldmann在瑞士伯尔尼发明了裂隙灯系统，用于检查。这个检测系统被认为是光谱共焦、共聚焦传感器测量系统的雏形。
光谱共焦位移传感器是一种通过光学色散原理建立距离与波长间的对应关系，利用光谱仪光谱信息，从而获得位置信息的装置，如图1所示，白光LED光源发出的光通过光纤耦合器后可以近似看作点光源，经过准直和色散物镜聚焦后发生光谱色散，在光轴上形成连续的单色光焦点，且每一个单色光焦点到被测物体的距离都不同。当被测物处于测量范围内某一位置时，只有某一波长的光聚焦在被测面上，该波长的光由于满足共焦条件，可以从被测物表面反射回光纤耦合器并进入光谱仪，而其他波长的光在被测物面表面处于离焦状态，反射回的光在光源处的分布远大于光纤纤芯直径，所以大部分光线无法进入光谱仪。通过光谱仪得到光强处的波长值，从而测得目标对应的距离值。由于采用了共焦技术，因此该方法具有良好的层析特性，提高了分辨力，并且对被测物特性和杂散光不敏感。
电涡流传感器主要参数和优势
电涡流传感器主要参数和优势
电涡流位移传感器的探头的几何参数对传感器的性能有重大影响，探头是涡流传感器的组成部分，通常采用非金属材料制作，要求坚固，不易变形。在某些场合还要求探头材料能耐高温、耐高压及不受油类介质的影响。传感器探头的结构如图3所示，用高频特性较好的非金属材料(如聚四氟乙烯)作线圈骨架，外面罩以聚酰保护套。线圈骨架内、外直径固定，骨架做成可抽动的，以使线圈的厚度可调。线圈的几何参数对传感器性能的影响是很大的，研究其几何参数对其性能的影响规律是十分必要的。
压力传感器是压力变送器吗二者有什么区别
压力传感器是压力变送器吗？二者有什么区别？
压力丈量仪表中的电测式仪表称为压力传感器。压力传感器普遍由弹元件和位移敏感元件组成。
1.弹元件的作用是使被测压力作用于某个面积上并转换为位移或应变，然后由位移敏感元件或应变计转换为与压力成一定关系的电信号。有时把这两种元件的功用集于一体，如压阻式传感器中的固态压力传感器。
2.压力是消费过程和航天、航空、工业中的重要过程参数，不只需求对它停止动态丈量，而且还要将丈量结果作数字化显现和记载。大型炼油厂、化工厂、发电厂和钢铁厂等的自动化还需求将压力参数远间隔传送，并请求把压力和其他参数，如温度、流量、粘度等一同转换为数字信号送入计算机。
3.压力传感器是极受注重和开展疾速的一种传感器。压力传感器的开展趋向是进一步进步动态响应速度、精度和牢靠性以及完成数字化和智能化等。常用压力传感器有电容式压力传感器、变磁阻式压力传感器、霍耳式压力传感器、光纤式压力传感器、谐振式压力传感器等。
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