河北三坐标测量机供应诚信企业「北京一测」

蔡司三坐标测量

当测量设备搬迁或者整个厂房搬迁的时候，您需要一个能提供正确的拆卸、打包以及运输设备并在到达新的地点后安装设备的可靠的合作伙伴。我们确保您的机器性能和准确度不会因为搬迁受到影响。我们广泛的知识能帮助您克服这些挑战。我们也能跨越国界提供支持，这将大大减少您的停机时间。

具体来说，在模具制造企业中应用测量机完成设计和检测任务时，要密切关注测量基准的选择、测头的标定和选择、测点数及测量位置的规划、坐标系的建立、环境的影响、局部几何特征的影响、CNC控制参数等多方面的因素。这当中的每一个因素，都足以影响测量结果的准确和效率。

蔡司三坐标测量机

触发测头

对于单点误差分布比较均匀的圆(没有突变的奇异点)来说，测量4个点、8个点或是12个点对直径和位置度影响很微小(在公差带不太小的情况下)，尤其是对采用小二乘法拟合得到的圆;但是，采点数目对于圆度的影响确是不可忽略的。根据系统的分析和计算，要准确评价被测圆的圆度所需要的测点数目N不小于64。

扫描测头

扫描测头在进行单点触发采点时，其工作方式与触发式测头有很大的区别。触发式测头的采点是在测头触发开始时发生的;而扫描测头则是采用模拟信号转换的方式，其单个采点是在测头触发结束、测针离开物体表面时发生的。这两种不同的采点方式造成的显而易见的区别就是触发测头采点速度显著高于扫描测头。触发测头的采点给人的感觉是“一碰即退”，而扫描测头采点则是测针碰到工件后，会短暂粘滞在工件表面，然后缓慢回退至离开工件表面。

接触式测头与光学测头

近年来流行着一些带有误导性的宣传，导致部分用户对光学测头有过高的期待，例如“用光学测头一扫，零件的所有尺寸都出来了”等等，这对光学测头实际上存在很大的误解。从目前的状态来说，接触式与光学测头之间主要是相互补充的关系，而非竞争。三维光学测头有不同的分类，比如点光源、线光源、面光源，不同的测头其应用场合有显著区别。我们将光学测头的应用大致分成两类：表面数字化和三维测量。