XRF矿石分析仪产品特点
1.小型化、、高速度、易操作，Na11-U92高灵敏度、分析
2.可同时分析40种元素
3.采用多准直器多滤光片和扣背景技术
4. Peltier电制冷 FAST SDD硅漂移检测器提供出色的短期重复性和长期再现性以及出色的元素峰分辨率
5.超高记数数字多道电路设计，双真空抽速机构，真空度自动稳定系统
6.标配
矿石分析仪价格
XRF矿石分析仪产品特点
1.小型化、、高速度、易操作，Na11-U92高灵敏度、分析
2.可同时分析40种元素
3.采用多准直器多滤光片和扣背景技术
4. Peltier电制冷 FAST SDD硅漂移检测器提供出色的短期重复性和长期再现性以及出色的元素峰分辨率
5.超高记数数字多道电路设计，双真空抽速机构，真空度自动稳定系统
6.标配基本参数法软件，多任务，多窗口操作
7.薄膜滤光片技术，有效提高轻元素检出限
>美国AmpTek -SDD探测器, 高分辨率高计数率
>真空测试环境提供轻元素检测效果
>无损元素分析涵盖11Na to 92U
>适应各种复杂矿物样品测试，固体，液体，合金，粉末和泥浆
>多组合滤光片系统，有效提高微量元素检出限
>坚固的设计适用于于各种复杂而严苛的现场工作环境
我们使用EDX9000B矿石分析仪对磁铁矿进行了多次测定，下图是含量范围和精密度标准偏差结果。
X射线光谱现场分析技术是采用现场X射线光谱仪在采样现场对待测目标体中元素进行地定性和定量分析技术, 又称为现场X射线荧光矿石分析仪。 根据现场分析的应用场景与采样方法, X射线光谱现场分析可分为X射线光谱现场原位分析和X射线光谱现场取样分析。 现场原位分析是指将X射线光谱分析仪的探测窗直接置于岩(矿)石露头或土壤或其他待测物料的表面, 在现场原生条件下获取待测目标体中元素种类和元素含量的分析方法; 现场取样分析是指对待测目标体进行样品采集
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