品位控制对精矿、矿渣、矿尾等矿物品位进行分析，为矿物贸易、加工以及矿渣、尾矿再利用提供价值判断依据。——环境分析对矿石周围环境、尾矿、粉尘、土壤污染等进行分析与检测，评估矿石环境修复效果。可分析元素S,K,Ca,Ba,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,As,Se,Rb,Sr,Zr,Nb,Mo,Pb,Ag,Cd,Sn,Sb,Hf,Ta,W,Re,Pb,Bi,
矿石元素分析仪供应
品位控制对精矿、矿渣、矿尾等矿物品位进行分析，为矿物贸易、加工以及矿渣、尾矿再利用提供价值判断依据。——环境分析对矿石周围环境、尾矿、粉尘、土壤污染等进行分析与检测，评估矿石环境修复效果。可分析元素S,K,Ca,Ba,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,As,Se,Rb,Sr,Zr,Nb,Mo,Pb,Ag,Cd,Sn,Sb,Hf,Ta,W,Re,Pb,Bi,Cs,Te,U,Th,Hg,Sc，Au，Mg,Al,Si,P,Cl(共43种)
岩石是矿物的集合体，是各种地质作用的产物，是构成地壳的物质基础。矿物是在各种地质作用中形成的天然单质或化合物，通常由像钙、镁、钠、铝、钡、铁、锌等多种元素组成。通过仪器测试可以得到所含元素及各个元素的含量。有部分矿石因需要提取的矿物量较低（ppm级---百万分之一，如：5-10ppm金矿），通过简单的测试无法准确判定含量的多少，轻便矿石分析仪也只能做半定量分析。这就需要的分析手段---原子吸收光谱仪。
轻便矿石分析仪要求具有高的分辨率和信噪比、更好的强度准确性和波长准确性以及强的抗外界干扰性和优良的仪器稳定性，在仪器的软件上，要求能够进行导数、去卷积等复杂的数学计算，能够计算光谱间相似度、模式识别分析、支持多元校正分析和用户自建谱库并进行检索。轻便矿石X分析仪分析矿石中的元素及含量时。 国外仪器主要适用FP法（基本参数法）。苏州英飞思科学仪器有限公司
X射线是一种波长较短的电磁辐射，通常是指能量范围在0.1~100keV的光子。X射线与物质的相互作用主要有荧光、吸收和散射三种。X射线荧光是由物质中的组成元素产生的特征辐射。当高能电子束照射样品（靶材）时，入射高能电子被样品中的电子减速，这种带点粒子的负的加速度会产生宽带的连续X射线谱，简称为连续谱和韧致辐射。然后化学元素受到连续X射线谱的照射，内层电子被激发，驱逐一个内层电子形成空穴，原子处于不稳定状态。
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