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原子荧光光谱仪

原子荧光光谱法是通过测量待测元素的原子蒸气在辐射能激发下产生的荧光发射强度，来确定待测元素含量的方法。气态自由原子吸收特征波长辐射后，原子的外层电子从基态或低能级跃迁到高能级经过约10-8s，又跃迁至基态或低能级，同时发射出与原激发波长相同或不同的辐射，称为原子荧光。原子荧光分为共振荧光、直跃荧光、阶跃荧光等。发射的荧光强度和原子化器中单位体积该元素基态原子数成正比，式中：I f为荧光强度；φ为荧光效率，表示单位时间内发射荧光光子数与吸收激发光光子数的比值，一般小于1；Io为激发光强度；A为荧光照射在检测器上的有效面积；L为吸收光程长度；ε为峰值摩尔吸光系数；N为单位体积内的基态原子数。原子荧光发射中，由于部分能量转变成热能或其他形式能量，使荧光强度减少甚至消失，该现象称为荧光猝灭。

原子光谱仪分析技术的应用有哪些？

1.原材料复验 为确保航空产量，必须对入厂原材料（包括金属和合金）和炉后样品进行全项或选项复验，检查原材料成分是否符合规定的技术条件的要求。

2.炉前分析 配合熔炼过程，测量炉中钢水或熔融合金的元素韩流昂是否符合设计要求。

3.故障分析 针对在生产、试制或使用过程中出现的问题，对材质进行分析鉴定。

4.工艺检查 对已投产的锻件、铸件进行定期分批量分析，以检查锻、铸工艺条件是否改变。

5.样机（件）材料鉴定 对样机或部分零件进行无损或少损的成分分析，以确定其材料牌号，为机械产品的设计、维修和产品改进提供参考。

原子荧光光度计常见干扰

原子荧光光度计是利用KHB或NaHB作为检测还原剂，将待测溶液中的待测元素还原成原子蒸汽，并借助外力形成基态原子，在吸收

能量之后形成激发态原子，激发态原子在跃迁时将能量以荧光的形式散失，通过不同元素，荧光强度不同来判定待测液中的元素种类。其中KHB或NaHB的反应必须在酸性介质环境中进行，当环境酸度值降低时，空白对照组的荧光强度会偏高并波动幅度较大，在检测待测液中是否含有某种元素时，荧光强度有较大振幅，一般在1000—8000，因此导致原子荧光光度计在检测中结果差距较大，甚至由于荧光强度的较大振幅使得测量仪显示信号溢出。识别并排除介质干扰原子荧光光度计度的方法：通过观察试验检测现象，当出现原子荧光强度随着介质酸度值增加而增加，随着介质