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CT检测

工业CT检测技术是以X 射线和γ射线作为辐射源的工业CT，其工作原理就是射线检测的原理。计算机层析成像技术使用不同的能量波作为辐射源，其工作原理也有所不同。在工业无损检测中广泛应用的是透射层析成像技术(ICT),使用的辐射源多为x射线或y射线，包括低能X 射线或由产生的高能X射线，常用的γ射线同位素则有192Ir、137Cs 和60Co 等。

CT检测发展

一代CT使用单源(一条射线)单探测器系统，系统相对于被检物作平行步进式移动扫描以获得N个投影值(1值),被检物则按M个分度作旋转运动，被检物仅需转动180%。代CT机结构简单、成本低、图像清晰,但检测效率低，在工业CT中已经很少采用。

二代CT是在第代CT基础上发展起来的。使用单源小角度扇形射线束多探头，射线扇束角小、探测器数目少，因此扇束不能全包容被检断层,其扫描运动除被检物作M几个分度旋转外，射线扇束与探测列架还要一起相对于被检物作平移运动。在至全都覆盖被检物，得到所需的成像数据。

三代CT是单射线源，具有大扇角、宽明束、全包容被检断面的扫描方式。对应宽扇束有几个探测器，保证一次分度取得八个投影计数和1值，被检物仅作M个分度旋转运动。第三代CT运动单一、好控制、，理论上被检物只需旋转一周即可检测一个断面。

四代CT也是一种大扇角全包容、只有旋转运动的扫描方式，由相当多的探测器形成固定圆环，仅由辐射源转动实现扫描。其特点是扫描速度快、成本高，仅在CT上使用，在工业CT中一般不采用。

五代CT是一种多源多探测器，用于实时检测与生产控制系统，其辐射源与探测器按120°分布，工件与辐射源到探测器间不作相对转动，仅有管子沿轴向的分层运动。

CT检测X射线利用率

首先，CT系统的设计是否紧凑是一个至关重要的因素。 这不仅仅影响机型的大小，更重要的是它决定了X射线的利用率。众所周知，X射线（光子）会随着传播距离的增加而衰减，并且基本上遵循衰减与距离的平方成反比的规律，换言之，X射线源与探测器之间的距离越长，X射线的利用率就越低。因此，将CT系统设计得越紧凑越好是首要的原则之一。