检测窗口 直径：8mm 或3mm（选配） 激发源 微型X射线管 金靶，50kV/40uA 大值 ；银靶，用于选配充氦装置，可分析轻元素 探测器 Si-PIN探测器；SDD探测器；自动电子制冷系统 显示器 角度0～90度可调的高亮度VGA彩色触摸屏 系统电子元件 533 MHz ARM 11 CPU，300 MHz DSP数字信号处理器、80 MHz ASICS DSP数字信号处理器
便携式矿石分析测试光谱仪供应
检测窗口 直径：8mm 或3mm（选配） 激发源 微型X射线管 金靶，50kV/40uA 大值 ；银靶，用于选配充氦装置，可分析轻元素 探测器 Si-PIN探测器；SDD探测器；自动电子制冷系统 显示器 角度0～90度可调的高亮度VGA彩色触摸屏 系统电子元件 533 MHz ARM 11 CPU，300 MHz DSP数字信号处理器、80 MHz ASICS DSP数字信号处理器，4096多道分析器、32Mb/128Mb用户内存 外型尺寸 95.5（W）×24。
分辨率：1.2nm @15kv，2.2nm @1kv（非样品台偏压模式） 放大倍数：10X—1000000X，连续可调 加速电压：20v-30kv，连续可调 样品台移动范围：X=Y=120mm，Z=50mm 能谱探测器：SDD硅漂移电制冷探测器 能量分辨率：MnKa优于127eV 元素分析范围：Be4—Cf98。 [1] 主要功能编辑 播报采用ET二次电子探测器、In-Iens二次电子探测器、HDBSD背散射探测器和能谱探测器分别对信号进行检测、放大、成像，用于各种微观形貌及成分分析。
勘查多元素现场分析，可广泛应用于普查、详查的各个过程，矿化异常，扩展勘查范围。可大大减少送回实验室样品的数量，从而节约运输和分析费用。——岩芯检测分析岩芯和和其他钻探样品，建立矿山三维图，分析储量，可大大提高钻探现场及时决策效率。——开采过程控制矿体边界圈定，矿脉走向判定，对开采过程进行管理和控制，对矿石品位进行随时检测。
>美国AmpTek -SDD探测器, 高分辨率高计数率
>真空测试环境提供轻元素检测效果
>无损元素分析涵盖11Na to 92U
>适应各种复杂矿物样品测试，固体，液体，合金，粉末和泥浆
>多组合滤光片系统，有效提高微量元素检出限
>坚固的设计适用于于各种复杂而严苛的现场工作环境
我们使用EDX9000B矿石分析仪对磁铁矿进行了多次测定，下图是含量范围和精密度标准偏差结果。
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