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对比试样校准检测

可对管、板、缆索等大范围结构件进行12 kHz~250 kHz的宽频扫查,并可进行频扫图像显示、A扫信号显示和包络显示,可对A扫信号进行DAC(距离-波幅曲线)分析。 由于是在实验室进行对比试块的检测,考虑到试块需加工内部球孔缺陷,所以取管道原长度的1/2进行加工,由于无法采用传统线圈探头进行检测,所以采用板波探头进行检测,换能器的设计分为柔性和硬性两部分,其中硬性设计的主要功能是信号的输入输出、保护换能器、方便操作人员使用等;柔性部分的主要功能是激励和接收导波信号。

对比试样校准测量方法

覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中有五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。 X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有射线源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

对比试样校准使用注意事项

1.在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。　　

2.在测量的时候要注意，侧头与试样表面保持垂直。　　

3在进行测试的时候要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。　

4.在测量的时候要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。