tektronix 80E04 电接口取样模块
Tektronix 80E04
20GHz 2Ch TDR module for CSA8000
80E04模块主要特点和优点
高达70 GHz的带宽和5 ps的上升时间 10 - 90%
的分析噪声 –60 GHz时 450 μVRMS , 30 GHz时 300 μVRMS
远程取样器 *1把采样头放到DUT附近，保证的信号保真度
独立的取样器偏移校正功能，保证简便地反嵌夹具和探头
双通道
微波连接器 3.5 mm, 2.92 mm, 2.4 mm和1.85 mm
探头支持
TDR 模块
15 ps反射真正差分全内置TDR上升时间 12 ps入射，阻抗分辨率小于1 mm
高达50 GHz的高效、准确、简便易用、经济的S参数测量
应用
串行数据应用阻抗检定和S参数测量
抖动、噪声和BER分析
通道和眼图仿真和基于测量的Spice模型
TDR/T测量
阻抗特征, 电感, 电容和S参数测量
传输线质量, 阻抗和串扰
真正差分, 共模和单端测量
高效隔离故障
电接口取样模块
80E10 ? 80E09 ? 80E08 ? 80E07 ? 80E06 ? 80E06X2 ? 80E04 ? 80E03 ? 80E01
主要特点和优点
所有模块
高达70 GHz的带宽和5 ps的上升时间 10 - 90%
的分析噪声 –60 GHz时 450 μVRMS , 30 GHz时 300 μVRMS
远程取样器 *1把采样头放到DUT附近，保证的信号保真度
独立的取样器偏移校正功能，保证简便地反嵌夹具和探头
双通道 80E01和80E06除外
微波连接器 3.5 mm, 2.92 mm, 2.4 mm和1.85 mm
探头支持 80E06除外
TDR 模块
15 ps反射真正差分全内置TDR上升时间 12 ps入射，阻抗分辨率小于1 mm
高达50 GHz的高效、准确、简便易用、经济的S参数测量
应用
串行数据应用阻抗检定和S参数测量
抖动、噪声和BER分析
通道和眼图仿真和基于测量的Spice模型
80E10, 80E08 和 80E04
TDR/T测量
阻抗特征, 电感, 电容和S参数测量
传输线质量, 阻抗和串扰
真正差分, 共模和单端测量
高效隔离故障
80E09, 80E07, 80E06, 80E01
高频, 低噪声信号采集
上升时间测量
抖动分析和波形分析
80E03 和 80E02
器件检定, 传输质量, 波形参数
小信号测量
*1集成在80E07 – 80E10上，80E01 – 80E04和80E06上选装。
TDR 模块: 80E10, 80E08 和 80E04
80E10、80E08和80E04是双通道时域反射计 TDR取样模块，在80E10中提供了高达12 ps的入射上升时间和15 ps的反射上升时间 在80E08中提供了18 ps的入射上升时间，在80E04中提供了23 ps的入射上升时间。这些模块的每条通道都能够生成一个用于TDR模式的阶跃信号；取样模块的采集部分监测入射阶跃和任何反射的能量。可以独立选择每条通道的阶跃极性。除独立测试隔离线路外，它还可以对两条耦合线路执行差分或共模TDR或S参数测试。每条通道独立阶跃生成功能可以实现真正差分测量，保证了差分器件的测量准确性。
80E10和80E08是全面集成的独立式小型2米远程取样器系统，可以把采样头放在DUT附近，保证的信号保真度。泰克为80E04提供了选装的2米扩展器。这些模块使用TDR阶跃驱动一条线路或在测量差分串扰时驱动线路对，同时使用另一条通道监测第二条线路或在测量差分串扰时使用另一个模块，检定串扰。8200和8000系列主机上的“滤波器”功能可以与TDR或串扰测量一起使用，以较低的边沿速率检定预计的系统性能。
所有模块拥有独立的入射阶跃和接收机偏移校正功能，消除了测量夹具和探头的影响，可以更快、更简便地反嵌测试夹具。80E10 取样模块提供了7 ps的采集上升时间及高达50 GHz的用户可选同等带宽 50, 40和30 GHz设置。80E08的取样带宽是30 GHz 用户可以选择30和20 GHz设置，80E04的取样带宽是20 GHz。20 GHz P8018单端探头和18 GHz P80318 差分可变间距TDR探头提供了杰出的性能和一致性测试功能，保证简便准确地测量背板和封装器件。
在用户结合使用这些模块及泰克IConnect? TDR和VNA软件时，可以采集高达1,000,000的数据点，获得高达50 GHz的差分、混合模式和单端S参数测量结果。IConnect还可以进行各种串行数据标准要求的阻抗、S参数和眼图一致性测试，及为千兆位互连进行全通道分析、Touchstone SnP文件输出和SPICE建模。
