X射线荧光光谱仪 X-Strata 920
根据所得光谱图进行定性鉴定或定量分析。由于不同元素的原子结构不同，当被激发后发射光谱线的波长不尽相同，即每种元素都有其特征的波长，故根据这些元素的特征光谱就可以准确无误的鉴别元素的存在(定性分析)，而这些光谱线的强度与试样中该元素的含量有关，因此还可利用这些谱线的强度来测定元素的含量(定量分析)。现在推出的第五代SPECTROM
光谱仪操作方法
X射线荧光光谱仪 X-Strata 920
根据所得光谱图进行定性鉴定或定量分析。由于不同元素的原子结构不同，当被激发后发射光谱线的波长不尽相同，即每种元素都有其特征的波长，故根据这些元素的特征光谱就可以准确无误的鉴别元素的存在(定性分析)，而这些光谱线的强度与试样中该元素的含量有关，因此还可利用这些谱线的强度来测定元素的含量(定量分析)。现在推出的第五代SPECTROMAXx继续提高分析性能，降低运行成本。
德国斯派克台式紧凑型直读光谱仪SPECTROCHECK高质量 光谱分析仪
斯派克SPECTROCHECK直读光谱仪：
，高可靠性和低价格的完美邂逅
SPECTROCHECK是专门设计的直读光谱仪，以满足中小铸造厂和机械加工企业对于紧缩预算采购光谱仪的需求。
这一款高质量，紧凑型，买得起的光谱仪生来用于分析钢铁，铝合金和铜合金中的元素含量。使用SPECTROCHECK的公司可以确保为其用户提供经过严格成分检测的高质量的金属材料。
德国斯派克落地式火花直读光谱分析仪SPECTROLAB M12
建立光学系统技术新标准
2007年SPECTROLAB创造了先锋技术“混合动力”PMT/CCD双检测器光学系统，为高l端直读光谱仪光学技术树立了新的里程碑。自从斯派克公司从未间断提升两种技术至新的境界。
两种创造性的光学系统技术
无论第三代“混合动力”双检测器光学系统还是全CCD光学系统都创造性地为金属工业提供了杰出的光学分析性能。双检测器光学系统无懈可击地满足了个性化科研实验室对灵活性，稳定性和的严格要求。使其尤其适于检测新材料，痕量分析，夹杂物，高纯金属以及贵金属。全CCD光学系统兼具惊人的重要性，稳定性和分析。便捷的ICAL智能标准化大大缩短仪器校正时间。德国斯派克台式紧凑型直读光谱仪SPECTROCHECK高质量光谱分析仪SPECTROCHECK以崭新专利光学技术实现突破。这些性能恰恰是炉前过程控制或进出厂原材料质量检验需要的。不仅于此，SPECTROLAB专利的测定球墨铸铁中的碳元素含量技术逐步取代了红外碳硫分析仪。美国专利证书编号：8，976，350，B2
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