目前,国内国外不管是出名的还是一般的生产厂家,其测厚仪的操作方法均需要如下步骤:
1调零,即在特定的零板上调零,或在需要测量的原基材上调零;
2根据测量产品的不同测量范围,用适当的测试片调值,以减少测量上的误差。 这种方法一般情况下,仪器新购使用时还是没有什么问题的,只是比较繁琐一点。 但当探头使用一段时间后,问题就出来了。操作中我们的仪器测量精度大大减小了。
涂层测厚仪

目前,国内国外不管是出名的还是一般的生产厂家,其测厚仪的操作方法均需要如下步骤:
1调零,即在特定的零板上调零,或在需要测量的原基材上调零;
2根据测量产品的不同测量范围,用适当的测试片调值,以减少测量上的误差。 这种方法一般情况下,仪器新购使用时还是没有什么问题的,只是比较繁琐一点。 但当探头使用一段时间后,问题就出来了。操作中我们的仪器测量精度大大减小了。 很难把握。原因在于产品的原理,这是一个致命的缺陷,即探头是使用一根磁铁绕线圈。 通上电流后产生磁场,这个磁场是不规则的。 还好,现在有一款新型的涂层测厚仪,它采用的是磁感技术。也就是我们知道的 霍尔效应, 霍尔于1879年发现的。通过研究霍尔电压与工作电流的关系,测量电磁铁磁场、磁导率、研究霍尔电压与磁场的关系 , 霍尔发现这个电位差 UH与电流强度 I H 成正比,与磁感应强度 B 成正比,与薄片的厚度 d 成反比。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量,相对接触式测厚仪更精准,不会因为磨损而损失精度。 这个磁场是就变成规则的。该原理运用在涂层测厚仪上面就无需再调测试片了。特别是测量圆弧的或凹面的产品时,使用更为简单和方便了。
MC-2010A型涂(镀)层测厚仪
MC-2010A型涂层测厚仪工作原理:MC-2010A型涂(镀)层测厚仪采用电磁感应法测量涂(镀)层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路,随着探头与铁磁性材料间的距离的改变,该磁回路将不同程度的改变,引起磁阻及探头线圈电感的变化。且具有存储、读出、统计、低电压指示、零点校准、两点校准及系统校准,其性能达到当代国际同类仪器的水平。利用这一原理可以准确地测量探头与铁磁性材料间的距离,即涂(镀)层厚度。
产品性能
MC-2010A型涂镀层测厚仪技术参数
1、测量范围:0~1200um
2、测量误差:<3%±1um
4、显示方式: 4位液晶数字显示
5、主要功能:
(1).测量:内置探头全量程测厚
(2).统计:设有三个统计量:平均值
(3).校准:可进行零点校准、两点校准及系统校准
(4).电量:具有欠压显示功能
(5).蜂鸣提示:操作过程中有蜂鸣提示
(6).关机:具有自动关机和手动关机两种方式
6、电源: 两节1.5v电池
8、外形尺寸:115mm*45mm*25mm
10、使用环境温度: 0℃~+40℃ 相对湿度:不大于90%
13、曲率半径: 凸:1.5mm 凹:6mm
14、欠电压指示: 右上角显示""
*临界厚度值:工件铁基厚度大于1mm时,其涂(镀)层厚度的测量不受铁基厚度影响。
涂层测厚仪
功能特点:
● 全中文菜单界面操作,简单方便;
● 本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和
硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)及非磁性金属基
体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:橡胶、油漆、塑料、阳极氧化膜等)。
● 可使用7 种测头(F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1)
● 具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);
● 具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(A-B);
● 设有五个统计量:平均值(MEAN)、测试次数(NO.)、
标准偏差(S.DEV);
●多种校准方式:可采用一试片校准和两试片校准方法对仪器进行校准,并可用五试片校准对仪器的系统误差进行修正;
● 具有存储功能:可存储4类工件,每类工件26组,每组15个测量值,共1560个测量值;
● 具有删除功能:对测量中出现的单个数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量;
● 设置限界:对限界外的测量值能自动报警;
● 具有与PC 机通讯的功能:可将测量值、统计值传输至PC 机,以便对数据进行进一步处理;
● 操作过程有蜂鸣声提示;
● 有高亮LED背光显示,方便在光线灰暗环境使用。
测量原理
本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性涂盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电涂盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。MC3000A/C/D涂层测厚仪技术参数:1、测量范围:MC-3000A0-1200umMC-3000C0-5000umMC-3000D10-9000um2、显示精度:0。
a)
磁性法(F型测头)
当测头与涂盖层接触时,测头和磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性涂盖层的存在,使磁路磁阻变化,通过测量其变化可导出涂盖层的厚度。
b)
涡流法(N型测头)
利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场,当测头与涂盖层接触时,金属基体上产生电涡流,并对测头中的线圈产生反馈作用,通过测量反馈作用的大小可导出涂盖层的厚度。
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