ICP光谱仪的双向观测
ICP光谱仪双向观测，ICP光谱仪小编为您详细介绍。双向观测：双向观测是在水平观测ICP光源的基础，增加一套侧向采光光路，实现垂直/水平双向观测，即在炬管垂直观测的方向依次放置3块反射镜，当要使用垂直观测的时候，就通过3块反射镜把炬管垂直方向上的光反射到原光路中，并通过旋转原光路的块反射镜，使垂直方向来的光与原水平方向来的光在整个光路中重合。该
国产ICP光谱仪
ICP光谱仪的双向观测
ICP光谱仪双向观测，ICP光谱仪小编为您详细介绍。双向观测：双向观测是在水平观测ICP光源的基础，增加一套侧向采光光路，实现垂直/水平双向观测，即在炬管垂直观测的方向依次放置3块反射镜，当要使用垂直观测的时候，就通过3块反射镜把炬管垂直方向上的光反射到原光路中，并通过旋转原光路的块反射镜，使垂直方向来的光与原水平方向来的光在整个光路中重合。该观测方式的切换反射镜由计算机控制，该方式融合了轴向、径向的特点，具有一定的灵活性，增强了测定复杂样品的能力。批量样品的测定应注意样品间应用稀的酸或去离子水清洗，个别高含量的样品应稀释后重新测定，并注意清洗足够的时间，以避免污染下一个样品。改观测方式可实现以下3中方式的测量：
①全部元素谱线水平测量。
②全部元素谱线垂直测量。
③部分元素谱线水平测量，部分元素谱线垂直测量。
双向观测能有效解决水平观测中存在的电子干扰，进一步扩宽线性范围。但是该观测方式需要不断地切换反射镜，可 能导致仪器的稳定性变差。由于径向观测的需要，炬管侧面必须开口，导致炬管的寿命大大降低，同时也改变了炬焰的形状。炬管开口处必须严格与光路对准，要不然炬管壁容易积累盐，会使检测结果严重错误;同时如果在开口出现积盐同样也会导致仪器检测结构存在严重的错误，必须注意清洗。而且增加了曝光次数，降低了分析速度，增加了分析消耗。全谱光谱仪在使用坡长为190nm以下光谱谱线时需要使用高纯氮(99。
ICP光谱仪的使用和维护（四）
对进样系统及炬管的维护
雾1化器是进样系统中精密，关键的部份，需要很好的维护和使用。仪器测量一定时间应插入测定一些已知浓度的质量量控制样品进行中间检查。要定期的清理，特别是测定高盐溶液之后，雾1化器的顶部，炬管喷嘴会积有盐份，造成气溶胶通道不畅，常常反映出来的是测定强度下降，仪器反射功率升高等。炬管上积尘或积炭都会影响点燃等离子体焰炬和保持稳定，也影响反射功率，因此，要定期用酸洗，水洗，，用无水乙醇洗并吹干，经常保持进样系统及炬管的清洁。
ICP光谱仪的发展
ICP光谱仪在不断发展，这里主要介绍下其在光源方面的进步有1、高频发生器的改进：由于ICP电子密度和激发温度随频率的增加而减低，而光源的背景强度(Ar的连续光谱)则与频率的平方成反比，随频率的提高要降低得多。因此，为了提高高频发生器的稳定性，ICP光谱仪采用具有很高频率稳定性和输出功率稳定性的固态发生器，等离子体阻抗可自动调节补偿，并由计算机控制工作参数、设火程序，可自动点火。因此，新型的商品仪器均已使用固态发生器，结合对样品的引入系统而采取恒温，提高进样的稳定性，加上光学系统的恒温，热稳定性高，使仪器预热时间大为缩短，大大提高了ICP光谱仪分析法的分析精度和准确度。2、采用端视技术以提高灵敏度： 近年来商品ICP光谱仪推出轴向ICP，有较高的灵敏度和较好的检出限。系统是否稳定正常的运行将关系到仪器测定数据的重现性和再现性，严重时影响仪器的使用寿命，因此该系统维护保养是至关重要的。ICP光谱仪中，ICP矩管通常是垂直放置，从侧面观察，称为径向ICP。端视ICP的检出限通常要比侧视提高几倍至一个数量级。这是由于侧视只观测到ICP正常分析区的一部分，信号量较小且背景较高2。端视可以观测ICP光谱仪整个正常分析区的光发射信号，增加了可测的信号量，同时光谱背景较低，信背比高。因此，端视的检出限显著高于侧视。端视ICP的主要缺点是线性范围相对较小。而且分析基体复杂样品时基体效应较明显。这是由于在采用水平矩管端视ICP光谱仪时，等离子矩的尾焰温度低，产生电子、离子复合，从而可能产生自吸和分子光谱所致。为此通常要采用压缩空气“切割”尾焰，或者采用“冷锥技术”(在ICP尾焰区放置一个类似的接口锥的金属锥)，可以有效地消除尾焰的干扰，以提高1端视ICP的稳定性及减少端视ICP的基体干扰。ICP光谱仪的应用领域已得到迅速扩大，在光源方面不断进步，具有很好的发展前景。
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