γ射线有很强的穿透性，射线探伤就是利用γ射线得穿透性和直线性来探伤的方法。γ射线虽然不会像可见光那样凭肉眼就能直接察知，但它可使照相底片感光，也可用特殊的接收1器来接收。当γ射线穿过（照射）物质时，该物质的密度越大，射线强度减弱得越多，即射线能穿透过该物质的强度就越小。此时，若用照相底片接收，则底片的感光量就小；若用仪器来接收，获得的信号就弱。当待检品经x-ray照射后，物质的密度和原子序数越
BGA检测
γ射线有很强的穿透性，射线探伤就是利用γ射线得穿透性和直线性来探伤的方法。γ射线虽然不会像可见光那样凭肉眼就能直接察知，但它可使照相底片感光，也可用特殊的接收1器来接收。当γ射线穿过（照射）物质时，该物质的密度越大，射线强度减弱得越多，即射线能穿透过该物质的强度就越小。此时，若用照相底片接收，则底片的感光量就小；若用仪器来接收，获得的信号就弱。当待检品经x-ray照射后，物质的密度和原子序数越大，物质吸收x-ray的比率也会越大。因此，用γ射线来照射待探伤的零部件时，若其内部有气孔、夹渣等缺陷，射线穿过有缺陷的路径比没有缺陷的路径所透过的物质密度要小得多，其强度就减弱得少些，即透过的强度就大些，若用底片接收，则感光量就大些，就可以从底片上反映出缺陷垂直于射线方向的平面投影；若用其它接收1器也同样可以用仪表来反映缺陷垂直于射线方向的平面投影和射线的透过量。一般情况下，γ射线探伤是不易发现裂纹的，或者说，γ射线探伤对裂纹是不敏感的。因此，γ射线探伤对气孔、夹渣、未焊透等体积型缺陷敏感。即γ射线探伤适宜用于体积型缺陷探伤，而不适宜面积型缺陷探伤
x-ray射线检测系统就是根据上述原理实现。
产品输送至x-ray照射区，检测装置将自动测定x-ray的透射比率。由于食品中异物成分比食品成分更能吸收x-ray能量，因此，当含有异物的产品经x-ray照射后，其能量会被大量吸收，x-ray光检测器测量透过被检测物的光束强度，来检测物品中是否含有不同于产品本身物质成分的异物。如当钢丝绳输送带内部发生拉伸或者断裂，有缺陷部位的x射线强度要高于无缺陷部位的X射线强度。
SMT电子制造业进口X-RAY检测设备，可清晰观察到半导体内部的电子、原材料的质量检查与缺陷检测。其用于连接状态，如焊线、芯片键合(粘晶)、分层、汽泡、焊点开路与短路等缺陷。ViewX2000高解析度x-ray检测仪x-ray(SMTX光机)采用高解析度增强屏和密封微焦X射线管组合的结构，通过x-ray非破坏性透1视检查，实时观察到清晰的图片。另外，强大的软件测量功能使得检查效率大大提高。在高压电的作用下，X射线发射管产生X射线通过测试样品（例如PCB板，SMT等），再根据样品材料本身密度与原子量的不同，对X射线有不同的吸收量而在图像接收1器上产生影像的。除此之外，CNC功能可以使检测过程变得更轻松、快捷。
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