NDC光学测厚仪的原理
NDC T100光学测厚仪是由基于多年经验的NDC集团独立发展并应用在厚度、宽度和速度测量的技术。系统由可以完全避免测量元件振动的异常坚固的测量臂、长寿命半导体激光器和阵列摄像头组成。可以自动使用测量表面的反射变化。
产品厚度是通过计算测量框架的气隙和每一端到测量对象表面的和的差值取得的。如图所示，测量的精度取决于三角测量法的精度和c-型架的
NDC X射线高能测厚仪供应商
NDC光学测厚仪的原理
NDC T100光学测厚仪是由基于多年经验的NDC集团独立发展并应用在厚度、宽度和速度测量的技术。系统由可以完全避免测量元件振动的异常坚固的测量臂、长寿命半导体激光器和阵列摄像头组成。可以自动使用测量表面的反射变化。
产品厚度是通过计算测量框架的气隙和每一端到测量对象表面的和的差值取得的。如图所示，测量的精度取决于三角测量法的精度和c-型架的稳定性。
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NDC X射线镀层测量仪简介
在线扫描制假和探测头是非常坚固的，为适用于涂层线的高温而设计的。传感器和电子元件为异常广泛的涂层范围提供准确的测量。现代化封闭回路系统对测量仪信息的整合是简单迅速的。由于其杰出的板带表面覆盖率，NDC FVXR-1是高质量金属涂层线的较佳选择。
NDC集团的领导能力和技术提供了无法比拟的产品特性，如的带钢单向纹探测配置（锌涂层端面上沿长度方向的超重条纹）和应用于退火线的的铁含量成分测量。
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NDC X射线镀层测量仪FVXR-1元件介绍
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传感器元件根据被测涂料的不同来优化和标定。测量仪是用在实验室测量从生产线取得的真实样品来标定的。每一种涂料都有其特定的标定曲线。
NDC FVXR-1 测量仪的设计利用有效的离子室，对信号处理计算机长距离均匀放大及传输的测量信号来保证在低时间常数（10ms）上的低统计干扰。
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