大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价检查。欢迎新老客户来电咨询！
产品特点膜厚测量中必要的功能集中于头部。通过显微分光测量绝i对反射率（多层膜厚、光学常数）。1点只需不到1秒的高速tact。实现了显微下广测量波长范围的光学系
OPTM反射率测试
大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价检查。欢迎新老客户来电咨询！
产品特点膜厚测量中必要的功能集中于头部。通过显微分光测量绝
i对反射率（多层膜厚、光学常数）。1点只需不到1秒的高速tact。实现了显微下广测量波长范围的光学系（紫外～近红外）。通过区域传感器控制的安全构造。搭载可私人定制测量顺序的强大功能。即便是没有经验的人也可轻松解析光学常数。各种私人定制对应（固定平台，有嵌入式测试头式样）。
为什么膜厚仪有时测量不准确
在系统矫正时没有选择合适的基体。基体1小平面为7mm，1小厚度为0.2mm，此临界条件测量是不可靠的。
附着物质的影响。本仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质，以保证探头与覆盖层表面直接接触。在进行系统矫正时，选择的基体的表面也必须是裸1露的、光滑的。
仪器发生故障。此时可以和技术人员交流或者返厂维修。
膜厚仪是一种比较精密的监测设备，它在平时的使用中对于精准度的要求很高，但是还是会有误差的现象发生，除了仪器本身的一些故障以外，环境因素也是造成误差的一大“元凶”。
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