从这些实验来看，导致CBB电容失效，容量降低，耐压降低有以下几点：
1、电容密封不够，水汽进入导致氧化，耐压降低。
2、长期瞬间电流过大，电压过高，内部放电自愈导致容量下降。
3、长期高负荷工作，金属镀层的蒸发导致容量降低。......................................................
CL21电容
从这些实验来看，导致CBB电容失效，容量降低，耐压降低有以下几点：
1、电容密封不够，水汽进入导致氧化，耐压降低。
2、长期瞬间电流过大，电压过高，内部放电自愈导致容量下降。
3、长期高负荷工作，金属镀层的蒸发导致容量降低。......................................................
薄膜电容器可以储存电荷，具有隔断直流的作用
当把薄膜电容器的两个极板分别接到直流电源的正，负极上时，正负电荷就会集聚在薄膜电容器的两个电极板上，在两个极板间形成电压。随着两极板上电荷的不断增加，薄膜电容器上的电压也由小逐渐增大，直到等于直流电源电压时，电路中便不会有电流流过，充电过程就停止了，这就是薄膜电容器的充电作用。如果把直流电源和薄膜电容器断开，此时电容器上便储存上了电荷，它储存的电荷量可由下式求出，即从上式可以看出，当电容器两端的电压一定时，电容器的容量越大，它所储存的电荷量也越大。可见电容器的电容量是一个衡量电容储存电荷本领的参数。这一被称为自发热的反应行为，是介电性能成为重要指标的主要原因之一，因为任何寄生电阻(ESR)或电感(ESL)都将增加能耗。
安规电容是指用于这样的场合，即电容器失效后，不会导致电i击，不危及人身安全。它包含了X电容和Y电容。x电容是跨接在电力线两线(L-N)之间的电容，一般选用金属薄膜电容;Y电容是别离跨接在电力线两线和地之间(L-E，N-E)的电容，一般是成对呈现。依据漏电流的约束，Y电容值不能太大，一般X电容是uF级，Y电容是nF级。X电容按捺差模搅扰，Y电容按捺共模搅扰。金属化电容器还有一个优点就是引出线是从喷了金属的端面引出，从而使电流通路很短，所以也称为无感电容器。符合安规电容要求的，有满足的耐压和稳定性的电容都能够做安规电容的。
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