一六仪器-------镀层测厚仪|光谱测厚仪|X-ray测厚仪|X荧光测厚仪|凃层膜厚仪
X射线测厚仪测量精度的影响因素有哪些
首先,是X射线的高压控制箱会对测量的精度造成一定的影响。X射线测厚仪的测量原理就是通过施加高压电源放射出X射线,通过X射线的穿透物体时的衰减量来测量被测物体的厚度。但是高压控制箱的安装位置会对测厚仪的准确度造成一定的影响。安装的位置不当
膜厚测试仪
一六仪器-------镀层测厚仪|光谱测厚仪|X-ray测厚仪|X荧光测厚仪|凃层膜厚仪
X射线测厚仪测量精度的影响因素有哪些
首先,是X射线的高压控制箱会对测量的精度造成一定的影响。X射线测厚仪的测量原理就是通过施加高压电源放射出X射线,通过X射线的穿透物体时的衰减量来测量被测物体的厚度。但是高压控制箱的安装位置会对测厚仪的准确度造成一定的影响。安装的位置不当就会使测量的精度不准确波动比较明显。测厚仪主要类型用于测定材料本身厚度或材料表面覆盖层厚度的仪器。另外,X射线本身的衰减也会影响测厚仪的测量精度。
一六仪器---镀层测厚仪|光谱测厚仪|X-ray测厚仪|X荧光测厚仪|凃层膜厚仪
仪器规格：
外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （长x宽x高）
样品仓尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （长x宽x高）
仪器重量 ：55kg
供电电源 ：交流220±5V
da功率 ：330W
环境温度：15℃-30℃
环境相对湿度：<70%
第四,在生产过程中,补偿值也会对X射线测厚仪的测量精度造成影响。我们利用测厚仪测量是,会事先给测厚仪输入一个补偿值,让测量值与实际值相等。在这个过程中,操作者首先对板材进行测量,但是操作者使用量尺的方式不同,就会造成补偿值的大小不等,会形成人为的误差。目前常见的测厚仪有γ射线、β射线、x射线及同位素射线等四种，其安放位置均在板带轧机的出口或入口侧。只有在进行测量时,操作者认真操作,减少补偿值得测算误差,使补偿值接近真实值,提高X射线测厚仪的测量精度。
一六仪器X射线荧光测厚仪 研发生产厂家 保证
江苏一六仪器有限公司研发的能量色散X荧光光谱仪具有稳定的多道脉冲分析采集系统、的解谱方法和EFP算法结合精准定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析，欢迎来电咨询！
不同种类的测厚仪的应用
1、薄膜测厚仪：用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。
2、X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，一六仪器从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。
应用领域：
线路板、引线框架及电子元器件接插件检测
镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析
手表、精密仪表制造行业
钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB
汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测
卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)
电镀液的金属阳离子检测
3、涂层测厚仪：用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度.
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