纳米铜粉粉体粒径测试的影响因素
粒度：颗粒的大小称为粒度，通常球体颗粒的粒度用直径/粒径表示，立方体颗粒的粒度用边长表示。粒径是颗粒的直径。然而实际中的颗粒大多是不规则的，所以，为了更方便的描述颗粒的大小，在实际测算中，将不规则的颗粒等效为规则球，并以其直径作为颗粒的粒度。这就是“等效圆球理论”。如想了解更多铜粉的相关信息，欢迎致电铜基粉体进行咨询。
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纳米铜粉粉体粒径测试的影响因素
粒度：颗粒的大小称为粒度，通常球体颗粒的粒度用直径/粒径表示，立方体颗粒的粒度用边长表示。粒径是颗粒的直径。然而实际中的颗粒大多是不规则的，所以，为了更方便的描述颗粒的大小，在实际测算中，将不规则的颗粒等效为规则球，并以其直径作为颗粒的粒度。这就是“等效圆球理论”。如想了解更多铜粉的相关信息，欢迎致电铜基粉体进行咨询。
仪器或方法的稳定性：纳米铜粉颗粒粒径大小的常见测量方法包括电镜法、X-射线衍射法、激光粒度分析法、沉降法、X-射线小角散射等。各有其优越性和局限性，适合于特定的制样条件和测量方法。
取样可能在某种程度上也具有一定的代表性。
如想了解更多铜粉的相关信息，欢迎致电铜基粉体进行咨询，我们将会竭诚为您解答与服务。
铜粉样品分散是否充分：曾经有个别客户质疑铜基粉体提供的纳米铜粉粉体没有达到纳米粒度的要求，而实际上经过我们的耐心指导，做好样品分散，电镜图片结果直接打消了客户的质疑。
操作过程中具体执行度是否规范也会影响到纳米铜粉粉体粒径测试。
环境（包括电压、温度等）因素也会影响测试。
如想了解更多铜粉的相关信息，欢迎致电铜基粉体进行咨询。
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