如何提高角度测量精度，一直以来是二维测量仪器难以的难关。现在市场行的二维测量仪器关于角度测量的方法基本有两种，一种是切线法，一种是采点计算法。
切线法是指人工旋转屏幕上或者镜头内刻线，分别对准工件两条边线，通过编码器或者圆光栅计数来测量角度的方法。这种方法又分为两种，投影切线法，如投影仪，工具显微镜等，和影像切线法，如影像仪，带视频功能的工具显微镜，依靠软件自带的米
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如何提高角度测量精度，一直以来是二维测量仪器难以的难关。现在市场行的二维测量仪器关于角度测量的方法基本有两种，一种是切线法，一种是采点计算法。
切线法是指人工旋转屏幕上或者镜头内刻线，分别对准工件两条边线，通过编码器或者圆光栅计数来测量角度的方法。这种方法又分为两种，投影切线法，如投影仪，工具显微镜等，和影像切线法，如影像仪，带视频功能的工具显微镜，依靠软件自带的米字线旋转测量。
切线法操作方便简单，但是测量精读低，适合批量检测，如果被测件角度精读要求较高，用另一种方法，采点计算法就比较适合了。
所有的几何元素都是有点组成的，包括基本元素直线，曲线和圆弧。二维平面角度由基本几何元素两条直线组成，直线由无数的点组成。所以角度测量准确与否，采点是关键的。
回归直线偏差小。
有很多检测人员反应，在测量角度时，重复精度很差，同一个人同样的方法，两次测量重复误差达到0.5度之多。
很多影像测量软件，包括三坐标测量软件，直线采集都是默认为两点。对于一些比较规则，直线性较好的零件来说，不会引起太大误差，但对于直线性不好，毛刺较多的零件来说，两点采集直线的方法会带来很大的误差，且重复精度很差，这样的直线构成的角度，多次测量的重复性肯定不会好了。
如果我们使用多点寻回归直线的方法来确定角度的两边，所采直线会更贴近被测工件的实际边线，直线偏差就会减少，同时，测量误差也会减少许多，测值重复性大大改善。
闭线扫描法
闭线扫描法可以扫描工件的内表面和外表面。只要确定起始点和方向即可。双击边界点1——双击方向点D——输入坐标值——选择线性或变量——输入步长——定义触测类型为矢量、表面或者边缘——双击初始矢量——输入点1的矢量——点击创建即可。
如果被测工件为CAD模型，则先确认为闭线测量——点击工件表面起始点——在CAD模型上就会生成“1”——再点击扫描方向——点击创建即可。
面片扫描
所谓面片扫描就是扫描一篇区域，需要确定开始点、方向点、扫描宽度、扫描长度等，然后根据给出的边界点确定扫描面片，三个点为三角形面片，四个点就是四边形面片了。
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