标准：1）IPC-A-610D (E) 电子组件的可接受性。x射线机的分类更细、性更强，特别是在x射线无损检测设备方面更突出地体现了这一点。2）MIL-STD 883G-2006微电子器件试验方法和程序3）GJB 548B-2005微电子器件试验方法和程序4）GJB 4027A-2006军1用电子元器件破坏物理分析方法5）GJB 128A-1997半导体分立器件试验方法
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X射线设备
标准：1）IPC-A-610D (E) 电子组件的可接受性。x射线机的分类更细、性更强，特别是在x射线无损检测设备方面更突出地体现了这一点。2）MIL-STD 883G-2006微电子器件试验方法和程序3）GJB 548B-2005微电子器件试验方法和程序4）GJB 4027A-2006军1用电子元器件破坏物理分析方法5）GJB 128A-1997半导体分立器件试验方法
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轫致辐射：当高速电子流撞击阳极靶受到制动时，电子在原子核的强电场作用下，速度的量值和方向都发生急剧的变化，一部分动能转化为光子的能量而辐射出去，这就是轫致辐射。
x-ray管在管电压较低的时，被靶阻挡的电子的能量不越过一定限度，只发射连续光谱的辐射。特征辐射：一种不连续的，它只有几条特殊的线状光谱，这种发射线状光谱的辐射叫做特征辐射，特征光谱和靶材料有关。
无损检测是工业发展必不可少的有效工具，在一定程度上反映了一个的工业发展水平，其重要性已得到公认。在无损检测的基础理论研究和仪器设备开发方面，我国与世界之间仍有较大的差距，特别是在红外、声发射等高新技术检测设备方面更是如此。在无损检测的基础理论研究和仪器设备开发方面，我国与世界之间仍有较大的差距，特别是在红外、声发射等高新技术检测设备方面更是如此。x-ray无损检测X光射线是利用一阴极射线管产生高能量电子与金属靶撞击，在撞击过程中，因电子突然减速，其损失的动能会以x-ray形式放出，其具有非常短的波长但高电磁辐射线。
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